Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
Interferens- och polarisationsmätningar
Fig. 8/3. Michelsons trappgitter
Fig. 8/5. Planhetsuridersöknirig.
Interferensringar synas på de erhållna
spektrallinjerna. Upplösningsförmågan
l_2d
A
För speciella finstrukturmätningar använ*
des interferometer bestående av halvför*
silvrad planparallell glas* eller kvartsplatta.
Michelsons trappgitter (fig. 8/3) består av
en serie på varandra lagda glasplattor,
som skjuta över varandra. Strålarna från
de olika plattorna interferera med varandra.
Gångskillnaden mellan strålarna från två
på varandra följande plattor skall vara
lika med ett antal hela våglängder
kl = nd—d eos <p + a sin <p
Då Michelsons trappgitter är en böjnings*
apparat, måste det belysas med ljus från
en kollimator, vars spalt är parallell med
gitterstrecken. Som försönderdelning av
ljuset användes lämpligen en monokro*
mator. Upplösningsförmågan för ett träns*
• • - d(n-l) , ...
missionstrappgitter= ^ och tor ett
reflexionstrappgitter=
Fig. 8/4. Lummer—Gehrckeplatta
Lummer—Gehrckeplatta (fig. 8/4), tjock
absolut planparallell glasplatta i vilken det
infallande parallella ljusknippet reflekteras
upprepade gånger. Då dispersionsområdet
är litet, måste ljuset vara sönderdelat med
en monokromator. De utgående strålarna
kunna antingen observeras med en kikare
eller upptagas fotografiskt.
TT ,.. . ,.. . 2nd eos ß
Upplosningsiormagan =––
Planhetsundersökningar med interferens
(fig. 8/5 a, b). S är en ljuskälla, en natrium*
lampa eller en kvicksilverlampa med fil*
ter. D är mattskiva för att erhålla diffust
ljus och M en klar glasplatta. Den nedre
plattans planhet skall undersökas. På
denna lägges en s. k. testplatta, vars nedre
sida är absolut plan. I ena kanten lägges
ett hårstrå emellan, så att en liten kil*
vinkel erhålles. Av interferensfigurernas
(fig. 8/6) utseende kan man sluta sig till
den nedre plattans ytbeskaffenhet. I alla
fallen representerar C kontaktpunkten. 1
första fallet är plattan plan, i andra och
tredje är den sfäriskt buktig och i fjärde
ojämn. Genom uppmätning av radierna i
andra fallet kan krökningsradien be*
stämmas.
ALLMÄNNA DELEN
817
Fig. 8/6. Planhetsundersökning.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
