Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
16 FEBR. 1929
MEKANIK
53
trollen av deras parallellitet och rätta avstånd tvenne
planglas jämte ett noggrant justerat
normallängd-mått eller prototyp. Härvid anhäftas normalmåttet
och det ändmått, som skall kontrolleras, alldeles
intill varandra på ett planglas och ett andra planglas
anbringas mot de övre ytorna. Härvid uppkomma ju
interferenslinjerna. Om båda ändmåttens övre ytor
Fig. 8. Ytorna parallella men ej i samma plan.
äro parallella och ligga i samma höjd, förlöpa
interferenslinjerna parallella och i obrutna linjer över
båda ytorna. Om interferenslinjerna gå i olika
riktningar, så kan härav slutas, att de båda ändytorna
inte äro parallella eller ligga i olika plan. Äro de
båda ytorna parallella, men ej i samma plan, så
förlöpa interferenslinjerna i samma riktning, men äro
förskjutna i förhållande till varandra. Prov härå
visas i fig. 8 där det högra ändmåttet är prototypen
och det vänstra det ändmått som skall undersökas.
Av bilden framgår, att interferenslinjerna äro
ungefär parallella, men svagt förskjutna i förhållande till
varandra. Härav kan slutas att de båda övre ytorna
äro parallella, men de ligga ej i samma höjd. Vidare
synes, att interferenslinjerna på den vänstra bilden
a. b. c.
Fig. 9. a, Interferenslinjer vid ett par passbitar med parallella
ytor men av olika höjder, b, schema iör Kösters
interferens-komparator. c, Interferenslinjer med ett par passbitar med icke
parallella ytor och av olika höjd.
äro svagt böjda, vilket tyder på att ytan ej är exakt
plan.
Med dessa enkla medel är det sålunda möjligt
att kontrollera verkstadsmåttsatser. Vad som
härtill erfordras är således en kontrollmåttsats av hög
noggrannhet och tvenne planglas, samt den förut
omtalade natriumlampan för erhållande av enfärgat ljus.
Det är ju i regel tillräckligt för en verkstadsmässigt
kontroll att fastlägga huruvida arbetsmåttsatsen ge-
nom avnötning eller molekylärförändring visar
avvikelser från kontrollmåttet. För den siffermässiga
bestämningen av denna avvikelse fordras särskilda
apparater, av vilka vi här i princip skola något
närmare ingå på beskrivningen av en. nämligen Kösters
interferenskomparator.
Kösters interferenskomparator för jämförande
mätningar.
Principen för denna apparats arbetssätt framgår av
fig. 9. De båda ändmåtten EABF och E’A’B’F’, som
skola jämföras och vilkas ändytor tänkas vara
parallella, men av olika höjd. äro bredvid varandra
vidhäftade på ett planglas G, och ett annat planglas H
är. med svag lutning, anbringat ovanpå desamma så
att de vid kilformiga mellanrummet mellan planglaset
H och passbitarnas ändytor förut omnämnda
interferenslinjerna vid luftkil av likformigt tilltagande
tjocklek uppstå (se fig. 3 a).
De interferenslinjer, vilka motsvara luftrummet CD
mellan H och AD, ligga vid det större ändmåttet vid
CD’ = CD och vilka sålunda i detta fall hava samma
ordningstal i spektrat. Det antal interferenslinjer,
som bildas emellan D och C" (som av den undre delen
av fig. framgår = 51/2) ånge således höjdskillnaden
mellan de båda ändmåtten i halva våglängder.
Utförandet av denna mätning förutsätter att man kan
lokalisera interferenslinjer av samma ordningstal i
spektrat över AB och A’B’, vilket icke är möjligt vid
användandet av monokromatiskt ljus, varvid
interferenslinjerna hava samma färg. Problemet att
individualisera interferenslinjerna har Köster löst på så
vis, att han i stället för att använda det enfärgade
ljuset betjänar sig av en ljuskälla, som levererar ett
olikfärgat linjespektrum, vari den olika
ordningsföljden av interferenslinjerna utskiljes genom bestämda
färgskiftningar. Den för utförandet av dessa
mätningar använda apparaten visas schematiskt i fig. 9 b.
De båda ändmåtten Et och E.„ som skola jämföras,
äro vidhäftade ett plan C av kvarts e. d., som vilar
på ett nivellerbart bord. Ljuskällan L är ett
helium-rör, varifrån ljuset går genom en lins A parallellt mot
en kombination B utav tvenne prismor, hopfogade vid
a—c, vilka ytor äro försedda med ett
halvgenomskinligt silveröverdrag, reflekteras fullständigt vid
a—b och faller genom det försilvrade skiktets a—c
genom den noggrant plana ändytan d—e direkt på de
bredvid varandra stående ändmåttens övre ytor. De
emellan dessa och d—e uppstående interferenslinjerna
kunna iakttagas genom ett okular F. Äro ändmåtten
fullkomligt lika höga och ytorna noggrant parallella,
så gå interferenslinjerna i en obruten rät linje över
båda ytorna. Om denna betingelse däremot ej
uppfylles, så erhåller man den i fig. 9 c återgivna
interferensbilden, i vilken interferenslinjerna av samma
färg och ordningstal äro kraftigare markerade.
Snedställningen av interferenslinjerna i den högra bilden
i förhållande till den vänstra anger att den förras övre
yta ej är parallell med den senares. Man inställer nu
tvenne mikrometertrådar vid en i okularet anbringad
(i fig. 9 b ej synlig) Okularmikrometer på mitten av
cle ovan omnämnda interferenslinjerna av samma färg
och ordningstal samt anbringar ett ljusfilter framför
lampan, vilket endast genomsläpper de gröna
helium-strålarna (med en våglängd av 0,501 fx) och
bestämmer sedan antalet mörka interferenslinjer mellan de
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
