Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
54
båda mikrometertrådarna. Denna inställning kan ske
med en noggrannhet av 1/3o linjeavstånd, eller m. a. o.
inställningen kan ske med en noggrannhet av 0,01 fi.
Om provstycket är större eller mindre än prototypen
kan man sluta sig till genom att lätt trycka på
prisman och iakttaga åt vilket håll interferenslinjerna
vandra (alltid från högsta punkten på provytan).
Metoden kan även utsträckas till kontrollmätning
av cylindriska mått. tolkar, kulor o. d., vilket visas i
fig. 10 a-b-c-d.
c*
Fig 10. Några exempel på interferensmetodens
till-lämpning på jämförande mätningar utan särskild
apparatur.
Vi hava tänkt oss en 6 mm tolk, som skall
kontroll-mätas. För detta ändamål fastspränges på ett
planglas ett runt standardmått av exakt 6 mm tjocklek,
och för att underlätta avläsningen, placeras på ett
avstånd lika med dess diameter från tolkens mittlinje.
Detta avstånd fixeras meddelst en pappskiva e. d.
som framgår av fig. 10. Ett andra planglas anbringas
nu ovanpå, varvid, om tolk och planglas utvisa
skillnad i höjd, interferenslinjer uppstå i det kilformiga
luftskiktet emellan planglasets undre yta och
standardmåttets övre yta. Uppstå nu, som i vårt exempel
sex mörka interferensband på standardmåttets yta,
så skulle, om man tänker sig denna förlängd till
tolkens mitt, tolv sådana band få plats. Avståndet
mellan varje band är lika med en halv våglängd (för
gult ljus = —’g—j således är höjdskillnaden lika med
12 • 0,6
—- — = 3,6 fj,. Som framgår av fig. 10 a är tolken
större än standardmåttet, vilket man övertygar sig
om genom ett lätt tryck på planglasets övre yta,
varvid interferenslinjerna vandra åt höger, alltså i
riktning mot det tjockare luftskiktet, I fig. 10 b visas
det fall då tolken är mindre än standardmåttet,
varvid interferenslinjerna vandra åt vänster.
Om tolken är av optiskt samma höjd som
standardmåttet, bortfaller möjligheterna för att göra
interferenslinjerna visibla, nämligen det kilformiga
luftskiktet. Härvid iakttager man blott en stålgrå
skiftning emellan planglaset och standardmåttets yta, som
vid mindre ojämnheter är kantad av brunaktiga
begränsningar.
16 FEBR. 1929
Man har även möjligheter att kontrollera om tolken
är cylindrisk eller konisk. I förra fallet ligger
interferensbanden parallella med tolkens axel, i det senare
i en viss vinkel mot densamma. Härvid ändras
riktningen av interferensbanden och kilöppningen, så att
de förra ligga i en viss vinkel i förhållande till
tolkens mittlinje. Avståndet mätes nu parallellt med
denna linje, som av fig. 10 d framgår. Här är vid
den tjockare änden 16 band och vid den tunnare 13
3 0 6
band. Skillnaden är således —- = 0,9 fx. Ge-
nom standardmåttets runda form underlättas
planglasets inställning efter avvikelser i parallelliteten av
mätföremålet. I fig. 10 c visas metodens tillämpning
på kontrollmätningar av kulor. I motsats till
föregående metod, använder man sig härvid av
rektangulära eller kvadratiska standardblock. I båda fallen
erhålles den punkt- och linjekontakt, som
eftersträvas för planglasets inställning efter mätytan och
kontrollföremålet. Den i exemplet visade kulan är
större än standardmåttet. På detta falla 51/2 mörka
interferensband, således är kulan, om standardmåttet
är 6 mm: ■ -’ _ M större än detta; under
Li
samma förutsättningar som i föregående exempel.
c) Bestämmandet av passbitens absoluta längd enligt
interferensmetoden.
Den nyss beskrivna metoden möjliggör visserligen
noggrannare jämförande mätningar än med någon
rent mekanisk metod, men förutsätter naturligtvis att
den härför använda prototypen är exakt. För
kontrollering av denna är man således beroende av
pariserprototypen eller dess kopior, varvid alla fel-
Fig. 11. Diagram över interferensbandens förskjutning
emellan kvartsplatta och passbit vid absolutmätning.
källor måste tagas med i beräkningen. Genom att
direkt bestämma huru många våglängder av ett visst
ljus (rött, gult, grönt, violett osv.), som gå på
passbitens längd, har man ställt denna i relation till ett
oföränderligt naturmått och således frigjort sig från
den, i viss mån, godtyckligt valda meterprototypen
och dess felkällor. Man är numera i stånd att med
tillhjälp av jämförelsevis enkla apparater (se fig. 12,
Kösters interferenskomparator för absoluta mät-
t
TEKNISK TIDSKRIFT
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
