Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
TekniskTidskrift
BERGSVETENSKAP
REDAKTÖR: ERNST J. A. ROTHELIUS
INNEHÅLL: En ny röntgenspektroskopisk metod för kemisk analys av slipade ytor, av dr-ing. L. von Hämos.
— Kopparprisets variationer under åren 19001, o. m. 1936. — Stål och legeringar för permanenta magneter. — Notiser.
En ny röntgenspektroskopisk metod för kemisk
analys av slipade ytor.
Av dr-ing. L. von HAMOS.1
Inlednins;.
Vid den vanliga analysmetoden medelst
rönt-gentstrålar erhåller man ett linjespektrum.
Sådana spektra äro förhållandevis överskådliga. I
linjernas intensitet framträder de olika grundämnenas
genomsnittshalt i provet. Däremot kan vi icke draga
några slutsatser angående grundämnenas fördelning
inom provets olika delar.
Flera indirekta metoder för att visa kemisk
hetero-genitet i ett slipprov finnas. Som exempel härpå må
man nämna metallmikroskopet eller mikroskopet för
genomfallande polariserat ljus. I de flesta fall kunna
medelst dessa metoder de olika faserna identifieras.
Det finnes dock fall, då en analys skulle vara
önskvärd, vilken ger kemiska sammansättningen i ytans
olika punkter med samma tillförlitlighet, som de
rönt-genspektroskopiska metoderna.
Här skall nu redogöras för försök, vilkas ändamål
var att utveckla en ny röntgenmetod, vilken skulle
kunna visa sammansättningens variation längs
provets yta. Som utgångspunkt för dessa experiment
tjänade några försök, vilka hade till syfte att öka
röntgenspektras intensitet. Därvid lyckades jag
framställa böjda spektrograf-kristaller, som hade
den märkliga egenskapen att hopsamla
röntgenstrålarna i en punkt. Det visade sig, att även reella
bilder kunna erhållas medelst sådana kristaller av plana
ytor, vilka utsända röntgenljus.
Principen för röntgenspektroskopi medels plan
kristall.
För det första vill jag erinra om förfarandet vid
den vanliga röntgenspektroskopiska analysmetoden.
Fig. 1 visar schematiskt strålgången.
Materialet som skall undersökas befinner
sig vid P i form av pulver fästad på ett
underlag. Genom att utsätta detta pulver
för katodstrålar eller röntgenstrålar, alstras
i själva preparatet en ny röntgenstrålning,
vars karaktär är beroende av de grundämnen
som ingå i provet. Varje grundämne
utsänder sålunda ett visst antal diskreta rönt-
genvåglängder. Liksom i optiska spektrografer låter
man strålarna passera genom en spalt S. Strålarna
träffa efteråt en kristallyta K, vilken reflekterar de
olika våglängdkomponenterna l„,–— under
olika glansvinklar cpv <p2,–-. På den
fotografiska filmen F erhålles sålunda de spektrallinjer
Llf L2... Eftersom man känner grundämnenas
starkare linjer, så kan man efter uppmätningen av filmen
bestämma de grundämnen, som förekomma i
preparatet.
Principen för den nya metoden kan klargöras
medelst en schematisk figur (fig. 2). Provet som skall
undersökas har betecknats med O. Dess övre yta
skall analyseras. Man bestrålar denna yta med s. k.
primära röntgenstrålar utgående från röntgenröret R.
De primära röntgenstrålarna alstra i provets översta
skikt s. k. sekundära röntgenstrålar. Denna
sekundärstrålningens karaktär är som bekant beroende av
strålkällans, alltså i detta fall provytans kemiska
sammansättning. Varje ställe utav provets yta
utsänder således röntgenstrålar med våglängder
motsvarande sammansättningen i utgångspunkten.
Sekundärstrålarna träffa först kristallcylinderns K
Fig. t. Strålgång inom en röntgenspektrograf med plan kristall.
K
i Föredrag hållet i Svenska teknologföreningens
a-vdelningr för Kemi och Bergsvetenskap den 17
april 1936.
Fig. 2. Strålgång inom den nya spektrografen.
9 JAN. 1937. HÄFTE 1
1
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
