Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
Bergsvetenskap
A. Schleicher och J. Clermont.
Tabell II. Analys för påvisande av Fe i Al.
Cu som hjälpspektrum.
Intensitetslikhet mellan linjeparet Visar vikts-% Fe Linjeavstånd i A.E. Anmärkningar
Fe Cu i Al Fixpunkt Invarians hos paret Belysningstid
2 755,7 Å. E. 2 703,3 Å. E. 0,29 52,4 Mycket skarp Mycket Lång
invariant
2 599,1 „ 2 600,1 „ 0,23 1,0 ,, „ Mycket 7)
invariant
3 021,1 „ 3 099,9 „ 0,19 78,8 Tämligen „ Invariant
0. S. V. i
t. e. i närheten av tillsatselementets lämpligaste linjer
inte finnas några lämpliga grundsubstanslinjer, får
man låta en annan metall giva ett hjälpspektrum.
Denna metall väljes så, att dess linjer finnas i
närheten av tillsatselementets linjer. Tabell II och fig. 2
visar ett dylikt fall. Emissionsbetingelserna för
Al-gnistan äro rätt valda då Al 2816,2 Å. E. är
intensitetslik med Al-dubbellinjen 2575,1 + 2575,4 Å. E. Detta
inträffar då kapaciteten i urladdningskretsen är 8 000
cm. Hjälpspektrum, som ges av Cu-linjerna, är
användbart då Al 2652,5 1. E. och Cu 2618,4 Å. E. äro
intensitetslika.
Den vanligaste kvantitativa metoden torde
emellertid vara den, som baseras på jämförelseprov, varvid
några prover med kända halter exponeras
tillsammans med de obekanta proven under exakt lika
förhållanden.
Spektrallinjens svärtningsgrad pä den fotografiska
plåten, är den storhet på vilken den kvantitativa
analysen bygger, och svärtningen av en linje ökar med
stigande koncentration av elementet.
Om.svärtningsgraden betecknas med S och spektrallinjeintensiteten
med Ix och intensiteten hos den oexponerade delen
av plåten för .lo så gäller S — log •
Detta svärtningsvärde kan ligga till grund för
kvantitativ bestämning endast om
emissionsförhållandena äro exakt lika från prov till prov. Så är
emellertid sällan fallet. Såväl svängningar i den tillförda
energin som komponenternas kombinationer i proven
kunna orsaka både små och stora svängningar i
emissionen, vilka i sin tur inverka på
linjeintensiteten. Inom rätt vida gränser kan detta fel elimineras
om en komponentlinjes intensitet sättes i relation till
en grundsubstanslinjes intensitet. Om linjerna väljas
sa, att de ligga inom en begränsad del av plåtens yta
med samma bakgrundssvärtning, kan man antaga, att
/o-värdet är detsamma för båda linjernas svärtning.
Det blir sålunda förhållandet mellan
komponentlinjens (analyslinjens) och grundsubstanslinjens
intensiteter som lägges till grund för det vid analysen
använda svärtningsvärdet Sa.
Io lo Ix
S — log ••—; S1 = log —; = Sl - 5 = log.
Svärtningsvärden, svarande mot kända halter,
insättas i en s. k. standardkurva, fig. 3. På abskissan
sättes Sa-värden och på ordinatan logaritmen för
koncentrationen. (Genom att införa log. konc. erhålles i
det närmaste rätlinjiga kurvor.) Sa:värden för ett
prov med obekant halt avsättas nu på abskissan och
motsvarande koncentration avläses direkt på
ordinatan.
Linjernas intensitet uppmätes med en
mikrofotome-ter. Ett ljusknippe får passera genom den valda
linjen på plåten. Intensiteten hos det av linjen mer
eller mindre försvagade ljuset mätes med hjälp av en
selenfotocell direkt kopplad till en
spegelgalvanome-ter. Galvanometerutslagen minimum avläses på en
mattglasskala och äro mått på storheterna Ix och la.
De linjer som utmätas måste till sin svärtning vara
grå. Vid över- (svarta linjer) resp. under-exponering
(ljusgrå linjer) ger en ändring i linjeintensitet föga
variation i svärtningen. Detta innebär m. a, o. att
linjernas svärtning skall ligga inom den rakaste delen
av fotoplåtens svärtningskurva. För de flesta
plåtsorter ligger denna del mellan S = 0,15 — 1,8. Detta
motsvarar ett galvanometerutslag uppgående till 1/3
och Veo av utslaget för ett obelyst ställe på plåten.
Plåtkvaliteten väljes efter det våglängdsområde
inom vilket man arbetar. För den praktiska
spektralanalysen är detta 2 000—’8 000 Å. E. Fotografiska
upptagningar äro möjliga över hela detta område. Då
4 000—8 000 Å. E. utgör den synliga delen av
spektrum är där en undersökning med spektroskop
möjlig. För våglängdsområdet under 4 000 Å. E. — det
ultravioletta området — kan utslutande den
fotografiska upptagningen av spektrum komma ifråga.
Vilket våglängdsområde som skall väljas blir beroende
av de undersökta ämnenas våglängder. De vanligast
förekommande metallerna ha lämpliga analyslinjer
inom det ultravioletta området. Detta är å andra
sidan ej fallet med de sällsynta jordartsmetallerna,
som till största delen ha sina linjer i det synliga
våglängdsområdet. Vanliga fotomekaniska plåtar kunna
användas med gott resultat. En finkornig och jämn
Fig. 3. Standardkurva för bestämning’ av Fe i Al- och
Al-legeringar.
14 sept. 1940
67
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
