- Project Runeberg -  Teknisk Tidskrift / 1942. Allmänna avdelningen /
483

(1871-1962)
Table of Contents / Innehåll | << Previous | Next >>
  Project Runeberg | Like | Catalog | Recent Changes | Donate | Comments? |   

Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Häfte 44. 31 okt. 1942 Röntgenstrålarna och deras användning - Sidor ...

scanned image

<< prev. page << föreg. sida <<     >> nästa sida >> next page >>


Below is the raw OCR text from the above scanned image. Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan. Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!

This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.

Termisk Tidskrift

31 okt. 1942

483

Fig. 13.

träffa den cylindriska filmen, som under
exponeringen förskjutes parallellt med sin axel. Denna
förskjutning är kopplad till kristallvridningen och man
kan därför genom mätning av interferensens
koordinater på filmen beräkna både interferensens
riktning och kristallens läge i interferensögonblicket.
Den undre delen av fig. 13 visar ett
Weissenberg-fotogram, som utgör den på så sätt på en yta
utbredda 0-skiktlinjen i det ovanstående
vridfotogram-met.

Ett annat sätt än att genom vridning av kristallen
omkring en bestämd axel erhålla olika infallsvinklar
är att använda ett fint, regellöst fördelat
kristallpulver. Om pulvret är tillräckligt finfördelat finnas
alltid ett stort antal kristallfragment i det läge som
fordras för att varje interferens hkl skall kunna
uppträda. Då en viss interferens hkl alltid bildar en viss
vinkel (avböjningsvinkeln) med den infallande
strålen kommer denna interferens att uppträda utefter en
kon med den infallande strålen som axel. I fig. 14,
där P anger det av primärstrålen S träffade pulver-

Fig. 14.

des numera huvudsakligen för symmetribestämning
och för inställning av kristaller, som skola
undersökas med andra metoder.

Som redan nämnts erhållas interferenser med
monokromatisk strålning endast vid vissa infallsvinklar.
Om infallsvinkeln varieras uppträda därför
interferenser vid vissa lägen. Denna metod tillämpades redan
vid de klassiska Braggska försöken och är
fortfarande av stor betydelse. Kristallen vrides omkring någon
kristallografisk axel och interferensernas lägen
bestämmas med ionisation„kammare eller
Geiger—Müller-rör. Metoden har den stora fördelen att det
kristallläge som motsvarar varje interferens är känt och att
interferensernas intensiteter kunna mätas direkt. Om
det gäller uppmätning av ett stort antal interferenser
blir dock metoden tidsödande och tillåter ej heller
någon överblick av samtliga interferenser.

Snabbare och med möjlighet till god överblick
registreras interferenserna fotografiskt. Antag att en
kristall vrides, exempelvis omkring den
kristallografiska c-axeln, och samtidigt bestrålas med
monokromatisk strålning vinkelrätt mot axeln.
Interferenserna registreras på en cylindriskt böjd film, koaxial
med rotationsaxeln (fig. 12). I Laues ekvation
c (eos 7 — eos y0)~lX blir yo —90° och alltså
eos y -I- Ijc. Eftersom X och c äro konstanta blir
y = konstant om l = konstant. Alla interferenser
med samma l lämna alltså kristallen med samma
vinkel mot axeln och uppträda därför i samma zon (se
fig. 12). Om 1 — 0 är y =90°, vilket innebär att
zonen i fråga ligger i samma plan som den infallande
strålen. Om filmen vecklas upp bilda dessa zoner
räta linjer, s. k. skiktlinjer. Övre delen av fig. 13
visar ett dylikt s. k. vridfotogram. Ur avståndet
mellan O-skiktlinjen och en annan skiktlinje, kan y och
alltså, om X är känt, även c beräknas. Upptages även
vridfotogram med a och b som rotationsaxlar erhålles
på detta sätt elementardimensionerna. Bestämningen
av de enskilda interferensernas indices hkl, måste

därefter utföras. Det
index, som svarar
mot rotationsaxelns
riktning är som
framgår av det
sagda känt, men de två
övriga indices
återstå. Även om
ele-mentarcellens dimensioner äro
kända, försvåras en
entydig indicering av
att man ej kan
avgöra kristallens läge
då den under
vridningen gav upphov
till en viss
interferens. För att
möjliggöra detta har av
Weissenberg
angivits en metod vid
vilken vid varje
exponering alla
skiktlinjer utom en
avbländas. Interferenserna i den
återstående skiktlinjen

t-0

Fig. 12.

<< prev. page << föreg. sida <<     >> nästa sida >> next page >>


Project Runeberg, Tue Nov 12 16:24:43 2019 (aronsson) (download) << Previous Next >>
http://runeberg.org/tektid/1942a/0503.html

Valid HTML 4.0! All our files are DRM-free