Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Häfte 44. 31 okt. 1942 Röntgenstrålarna och deras användning - Metallers hållfasthet i belysning av röntgenografiska undersökningsmetoder, av Cyrill Schaub
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
Termisk Tidskrift
ning av axx under förutsättning att
elasticitetsmodulen E, Poissons konstant v samt töjningarna ey>1 och
e,/J2 äro bekanta.
Yid böjning av monokromatisk röntgenstrålning
mot ett kristallgitter gäller den kända Bragg’ska
relationen
1
ni = a sin ??
(?)
vari n — den selektiva reflexionens ordningstal
A — den monokromatiska strålningens våglängd
a := avståndet mellan de reflekterande gitter-
planen
$ — glansvinkeln
Genom derivering erhålles ur ekvation (7)
= — cotg i) d § (8)
Yid återstrålningsdiagram enligt figur 7 gäller rent
geometriskt
r± = Atg[ji — 2#±)
vari A ~ avståndet provyta—film; genom derivering
erhålles
dr+ — —
2 A
— = eos8 2 cotg ■& dr+
a 2 A
d a .
do
- av* — a°
a,„
vari a0 — avståndet mellan gitterplanen i
odeformerat tillstånd. För differensen erhålles härmed
eV2
tip1
EV>2
=
»V.
Vi
Fig. 9.
Återstrålningsdiagram av ett för
rönt-genografisk spänningsmätning lämpligt
material.
(10)
Storheten — i respektive riktning betyder fysikaliskt
emellertid ingenting annat än töjningen sy i samma
riktning. Därav följer
(9)
eos2 2
Ekvationerna (8) och (9) tillsammans ge
— = ~- eos2 2 />+ cotg t) , dr+
a 2 A
Vid spänningsmätningar på stål sätter man med god
approximation
= = #
V+ — V-^V
varvid den relativa ändringen av a i riktningarna
(ip ± rj) kan skrivas
Fig. 10.
Återstrålningsdiagram av ett
grovkornigt material,
reflexlinjerna äro upplösta i
diskreta punkter.
Vid återstrålningsdiagram är vid olika inställningar
avståndet A något olika; reducerar man emellertid
med hjälp av reflexlinjerna hos något jämförelseämne,
i vanliga fall Au eller Ag, alla radier r± till ett
konstant avstånd A0 kan man genom mätning av resp.
r_ på två filmer upptagna med olika vinklar ip2 och
ip1 mäta spänningen oxx enligt nedanstående formler
, = K.
r=K.
(r+) V2 — (r+) Vi
, = K-
sin2 (y>2-\-t]) — sin2 (Vi -|- r])
{r+]w — (r-)yi
sin2 (V2 + ’?) — sm2(i]>1—rj)
(r_) yj2 — (r+) Vi
sin2 {y>2 — V) — ■ sin2 (Vi —h ^7)
(r_) — (r-)vi
(12)
därX :
sin2 (y2 — rj) — sin2 (y>r—r])
E 1
-v 2 A,
eos2 2 $ cotg (?;
!±»7-
Vi = Vi ± v; % =
Dessutom kan man ur en upptagning likaledes
beräkna spänningen axx enligt
, = K-
sin2 (ip -f- r]) — sin2 (ip — rj)
(13)
Då vid elastiska formändringar skillnaden mellan aD
och efy) endast är av storleksordningen promille, kan
man med mycket god approximation sätta
(11)
Mätningen av oxx blir därenom oberoende av det
spänningsfria tillståndet, ett resultat som är
värdefullt vid mätning av egenspänningar!
Ekvationerna (12) och (13) gälla för stillastående film.
För att en röntgenografisk spänningsmätning enligt
ovanstående teori skall giva gynnsamt resultat
erfordras det att
1) materialet vid den använda manokromatiska
strålningen ger reflexioner med ett nära 90°
2) materialet har lagom kornstorlek »amt är
relativt fritt från egenspänningar av högre ordningen så
att reflexlinjerna bli tillräckligt skarpa, vilket är
förutsättning för en noggrann utmätning av filmerna
(fig. 8, 9, 10). I praktiken går man så tillväga att man
31 okt. 1942
507
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>