Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - H. 4. 28 januari 1950 - Instruments and Measurements 1949, av Wilhelm Forsling, Gunnar Hambræus, Sven Malmström, Björn Åström
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
/I januari 1950
73
Fig. 6. Ytfinhetsmätare (enl. Forster); t.v. stativ med
av-känningsstift, optisk avläsning, kamera och
matningsanordning, t.h. manöverlåda.
Fig. 7. Ett
originellt
mikroskop
(Frieseke &
Hoepfner); [-fininställningen-]
{+fininställ-
ningen+} synes
på stativets
baksida.
Fig. 8. Profilprojektor (Jungnerbolaget) hopbyggd med
verktygsslipmaskin; förstoringen är 10 gånger och
projektorbilden klart synlig även i dagsljus.
ett mikroskop 8, 11, genom vilket hårkorset kan iakttas.
Systemet hårkors—mikroskop har sin optiska axel 16
vinkelrät mot uppläggsprismat och i horisontalplanet.
Hårkorset befinner sig bakom mätobjektet 7, mikroskopet
framför. Sedan mätobjektet lagts upp på prismat närmas
en av bryggorna till dess ena anslagsyta allt under det att
man ser genom inställningsmikroskopet 8—11. Då
anslagsytan, vilken också kan vara buktig som på figuren och
endast behöver vara något så när finarbetad, kommer in i
mikroskopets synfält, ser man i den en spegelbild av
hårkorset. Spegelbilden närmar sig mikroskopets optiska axel
med dubbla hastigheten hos bryggan. Slutligen
sammanfaller den reflekterade bilden av hårkorset med ett i
oku-larmikrometern 13 ingraverat hårkors, ett läge, som kan
inställas med utomordentligt stor noggrannhet. I detta läge
avläser man glasskalan, och sedan man upprepat
förfarandet vid måtobjektets andra ände, får man mätlängden ur
skillnaden mellan de båda avläsningarna. Mätningen är
rent optisk utan mekanisk kontakt med ändytorna.
En annan märklig nyhet var Leitz’ ytfinhetsmätare enligt
Forster (fig. 6). Här får en mätnål röra sig lodrät upp
och ned mot mätstycket, som stegvis matas fram. Varje
gång mätstiftet vilar mot mätytan, registreras dess läge
automatiskt på en film. En och samma motor styr
mät-nålens rörelser, objektets och filmens frammatning samt
den senares exponering. Tack vare nålens lodräta rörelser,
riskerar man inte att nålen skall slå av tunna profiler i
ytan eller utsättas för dynamiska effekter, vilket kan
inträffa vid släpande mätnålar och medför snabb förslitning
av stiftet och felaktiga mätvärden. Principen användes
redan i Woxéns ytfinhetsmätare, men genom att
Leitzinstru-mentet har automatisk matning med upp till 100 slag i
sekunden, blir det betydligt bekvämare i användning.
Contax, Zeissverkens välkända universalkamera för
småbildsformat, visades i nytt utförande med
spegelreflexanordning. Samma firma visade också ett nytt
forsknings-mikroskop, Lumipan. Den märkligaste nyheten på detta
var den påkostade belysningsanordningen med
kondensor-revolver med tre kondensorer, bl.a. en ny pankratisk
kondensor (dvs. med variabel brännvidd) täckande alla
aper-turer från 0,15 till 1,4. Alla kondensorytor var
reflex-skvddade. En originell och intressant
mikroskopkonstruktion visades av den tyska firman Frieseke & Hoepfner
(fig. 7). Fokuseringen sker genom förställning av ett
teleskoprör. Fininställningen manövreras med en till hälften
utskjutande ratt på mikroskopets baksida, och
fininställningen avläses ovanför ratten genom en lupp.
Från England kom en märklig mikroskopnyhet:
faskon-trastförfarandet tillämpat vid påfallande belysning.
Fas-kontrastförfarandet är en metod att göra detaljer i ett
likformigt genomskinligt preparat synliga utan infärgning
med därmed följande nackdelar. Om ett objekt har
samma färg och samma ljusabsorption som det omgivande
mediet, så kan man i vanliga fall inte se det i ett preparat.
Faskontrastförfarandet utnyttjar det förhållandet att
brytningsindexen kan vara olika, och därmed den
fasförskjutning som ljuset undergår vid passagen genom detaljen,
vilken man får fram som ett mörkt eller ljust parti.
Förfarandet har hittills endast använts för genomfallande ljus,
men i ett metallmikroskop från Cook, Troughton & Simms
användes det nu också i påfallande ljus.
Fasförskjutningarna beror här på att ytorna hos de olika kristaller i ett
slipat prov kan ha små höjdskillnader och därpå att ljuset
tränger in i objektet obetydliga olika stora stycken före
reflexionen. Faskontrastbilden visar tydligare än i andra
mikroskop gränsen mellan olika kristaller.
En profilprojektor hopbyggd med en verktygsslipmaskin
visades av Jungnerbolaget (fig. 8). Med
projektionsanordningen kan man iaktta en verktygsprofil i avsevärd
förstoring under själva sliparbetet och exempelvis slipa ned
den till en på projektorskärmen uppritad kontur.
Wilhelm Forsling, Gunnar Hambræus,
Sven Malmström, Björn Åström
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
