Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - 1960, H. 5 - Transistorn i pulskretsar, av Gerhard Westerberg - Tillförlitlighet hos transistorer, av T Geoffrey Charles och Dag Hartman
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
nas temperaturberoende, varvid spärrskikten
snabbt försvinner (spärrskiktsförstöring eller
"runaway").
Kontakternas smältpunkt är den begränsande
faktorn vid relativt låga drivspänningar på
kollektorn. För germaniumtransistorer utgör
risken för genomslag begränsningen vid höga
tomgångsspänningar och låga temperaturer.
Vid högre temperaturer förstörs spärrskikten
i allmänhet innan genomslagsspänningen
uppnåtts.
I praktiken inträffar det vidare ofta att den
maximala kollektorströmmen och därmed
effekten måste begränsas genom att
strömförstärkningen blir låg vid stora strömtätheter i
basområdet.
Tillförlitlighet hos transistorer
T Geoffrey Charles, B. Sc. (Eng.), Västerås, och lektor Dag Hartman, Örebro
Om man skall konstruera en tillförlitlig
apparat, måste de krav, som man ställer på alla
de komponenter, som ingår i apparaten, vara
rimliga; konstruktionen får inte vara
pressad. I många fall blir konstruktionen bättre
om man lägger in ytterligare en transistor för
att få större marginal. Hur långt man kan gå
i detta avseende är ofta en rent ekonomisk
fråga som måste avgöras från fall till fall. Blir
antalet transistorer alltför stort kan emellertid
tillförlitligheten (Tekn. T. 1956 s. 509) sjunka
på grund av att felfrekvensen hos apparaten
ökar.
Om transistorer är väl kapslade, om de
används och är tillverkade på ett förnuftigt sätt,
kan man vänta en tillfredsställande
medellivslängd (ca 100 000 h) och en låg felfrekvens.
Liksom för alla andra komponenter fordrar
detta ett intimt samarbete mellan tillverkaren
och användaren. I de allra flesta fall är dock
samarbete av naturliga skäl begränsat till, å ena
sidan skrivning, å andra sidan läsning av
datablad och kurvor.
Olika transistortillverkare publicerar olika
mycket data och uppgifterna kan variera
mellan de mycket knappa och de mycket utförliga.
Som en allmän regel kan man säga, att den
mängd data som tillverkaren meddelar är en
bra måttstock på omfattningen av hans
provning. Utförlig provning av transistorer kostar
mycket pengar och utgör en betydande del av
tillverkningskostnaden. Det är svårt att få
uppgifter om hur mycket pengar som detta rör sig
om, men det är påfallande att i de fabriker som
utför omfattande provningar av sina
produkter är fler personer sysselsatta med provning
än med tillverkning.
Tillverkarens provning
Den ansvarsfulle transistortillverkaren bör ha
ett omfattande provningsprogram. När han
621.382.019.3
tar upp en ny transistortyp, är det självklart,
att han måste utföra typprov och helst skall
denna typprovning utföras på en första
produktionsserie och inte på handgjorda
laboratorieexemplar. Man måste härvid mäta alla
parametrar, som är aktuella och normalt kan de
uppgå till 20—30 stycken. Han måste även
utföra åldringsprov dvs. lagra transistorer i olika
temperaturer utan elektrisk belastning för att
fastställa transistorns egen stabilitet. Dessutom
måste han utföra långtidsprov vid olika
temperaturer och vid olika elektriska belastningar
för att fastställa transistorns maximala
drifttemperatur och drifteffekt. Ett samvetsproblem
uppstår härmed, eftersom tillverkaren från
ekonomisk synpunkt vill börja tillverkningen
innan långtidsprovet är klart, men av
säkerhetsskäl inte vill börja tillverkningen förrän
han är övertygad om att typen är tillförlitlig.
Resultatet från typproven möjliggör för
tillverkaren att publicera preliminära data på
transistorn. Slutgiltiga data, bör inte
publiceras förrän allprov på de tillverkade
exemplaren utförts. Tyvärr följs dock ej alltid denna
regel.
Allprovning kan omfatta fullständig provning
av alla tillverkade exemplar och omfattar
normalt mätningar av minst fem och upp till 20
olika parametrar. I regel mätes 12—-18
parametrar, de flesta av dessa likströmsmässigt
men även en del med hjälp av oscillograf. En
del tillverkare inkluderar i allprovningen ett
förfarande där transistorerna efter allprovning
lagras en till två veckor under normala
förhållanden och sedan genomgår samma provning
igen. Ett sådant förfarande är mycket
värdefullt för att upptäcka "tidiga" fel.
Utöver den självklara fördel, som en
omfattande allprovning ger användaren genom sin goda
kontroll på alla transistorer, ger den också
tillverkaren möjlighet att utge realistiska
datablad, som anger både medelvärde samt undre
145 TEKNISK TIDSKRIFT 1960 H. 5
Dag Hartman
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
