- Project Runeberg -  Teknisk Tidskrift / Årgång 90. 1960 /
123

(1871-1962)
Table of Contents / Innehåll | << Previous | Next >>
  Project Runeberg | Catalog | Recent Changes | Donate | Comments? |   

Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - 1960, H. 5 - Tillförlitlighet hos transistorer, av T Geoffrey Charles och Dag Hartman

scanned image

<< prev. page << föreg. sida <<     >> nästa sida >> next page >>


Below is the raw OCR text from the above scanned image. Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan. Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!

This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.

som vinnes med transistorer i fråga om vikt,
volym och effektbehov så tillkommer även
fördelar i fråga om livslängd och tillförlitlighet.

Tidiga uttalanden från amerikanska
tillverkare gick i för transistorn mycket positiv
riktning och man talade om livslängder på 100 000
li. Bittra erfarenheter liar emellertid gjort att
man på senare tid uttalat sig mindre högt och
ofta om tillförlitlighet. Sedan emellertid
tillverkningsmetoderna har stabiliserats för vissa
transistortyper och sedan förbrukarna har
bättre lärt känna transistorns begränsningar har
emellertid transistorerna vunnit mark.
Transistorerna anses nu som fullt pålitliga
komponenter och t.ex. tillverkare av elektroniska
räknemaskiner i hela världen går nu allt mer
över till att använda transistorer.

Standard Radio har enbart gynnsamma
erfarenheter. Sedan två år tillbaka har en av detta
företag byggd utrustning för överföring av
mätvärden varit i daglig drift utan något fel. Den
innehåller ca 400 transistorer och ca 1 000
ger-maniumdioder och har huvudsakligen
tillkommit för att ge underlag för
tillförlitlighetsvärden. Man kan här redovisa mindre än ett
transistorfel per två miljoner timmar
transistordrift. I en motsvarande med elektronrör byggd
utrustning skulle ett visst, obestämt antal rör
ha fått ersättas under samma tid enligt en
amerikansk undersökning.

Inom AB Åtvidabergs Industrier anser man
att en jämförelse mellan rör och transistorer
inom datamaskintekniken numera i de flesta
fall utfaller till transistorernas fördel. Förutom
fördelarna beträffande vikt, volym och
strömförbrukning nämner man; relativt liten
inverkan av strökapacitanser på grund av den låga
impedansen, färre sporadiska fel (felen
uppträder sällan momentant) ingen risk för dåliga
kontakter i rörliållaren, större livslängd,
lämplighet för byggnad av lätta, utbytbara enheter
på kort med etsad ledningsdragning samt
större stöt- och vibrationstålighet.

Uppfattningen om att transistorer har större
livslängd än rör bekräftas även inom LME.
Allting tyder på att man vid användning av
kvalitetstransistorer och vid konservativ
dimensionering av transistorkretsarna kan räkna med
större livslängd hos transistorapparater än hos
sådana apparater som byggs med långlivsrör,

Provmetoder och beräkning av medellivslängd
De större förbrukarna av transistorer utför alla
en omsorgsfull typprovning och
leveranskontroll av alla ingående komponenter. Dels utför
man marginalprov och dels undersöker man
en eller flera apparatprototyper. Vid
leveranskontroll av halvledare inom Saab får man för
halvledare av rundradiotyp ett
kassationsbort-fall av 40—80 %. För kommersiella och
militära typer av transistorer är kassationen 0—25 %.

Då de försiktighetsmått som liar nämnts i det
föregående har vidtagits är sannolikheten för
hög livslängd så stor att några extra
beräkningar ej behöver göras. Gör man beräkningar bör
man observera att medellivslängden för appa-

rater och medellivslängden för komponenter är
två helt skilda saker. Typprovning av
komponenter ger normalfördelade eller
Weibull-för-delade fall medan motsvarande
materialfelssta-tistik ger exponentialfördelning beroende på
att felaktiga komponenter byts ut. För
apparater byts i allmänhet ut felaktiga enheter, varför
även i detta fall gäller exponentialfördelning.

Drifterfarenheter

Inom LME har man funnit att transistoriserade
utrustningar har klarat sig förvånansvärt bra i
drift. Rapporter om transistorfel har varit
sällsynta. Under de senaste åren har ca 15 000
transistorer kommit till användning i
telefonstationsutrustningar. Hittills har endast några
få ersatts på grund av fel. Av den tidigare
nämnda högtalartelefonen har ca 50 apparater
nu varit i drift omkring ett år utan att något
enda transistor- eller diodfel har
inrapporterats. Sedan slutet av 1958 har för
starkljudste-lefoner, ca 60 hittills, inga rapporter om fel
ingetts. Ej heller har man funnit transistorfel
i transmissionsutrustningarna (24-kanals
ton-telegrafisystem och tonsignalmottagare).

I den transistoriserade hålkortsutrustning som
AB Åtvidabergs Industrier har haft i daglig
drift vid sin central för elektronisk
databehandling har endast ca tre transistor- och
diodfel per år inträffat på de sammanlagt flera
tusen halvledarelementen. De fel som har
uppkommit har oftast kunnat konstateras vid de
marginalprov som utföres en gång i månaden,
och innan de börjat inverka menligt på
utrustningens funktion.

Allmänna intryck samt råd
Standard Radio anser sig ha funnit att
transistorerna liar motsvarat alla förväntningar på
goda driftegenskaper och hög tillförlitlighet
och väntar sig ej några obehagliga
överraskningar på redan levererade apparater. En
varning kan emellertid vara på sin plats
beträffande giltigheten av vad som har sagts om övriga
komponenters tillförlitlighet. Dessa
komponenters egenskaper är nu i stort sett avpassade för
användning tillsammans med elektronrör.
Mindre, för transistorer speciellt avpassade
komponenter torde dock komma fram. Den
säkerhetsmarginal som konstruktören i dag
arbetar med kan då komma att försvinna.

För hård provning av transistorer innebär en
viss fara för minskad tillförlitlighet. De i
samband med typprov så ofta förordade cykliska,
klimatiska provmetoderna är inte att
rekommendera vid ankomstkontroll med
allprovför-farande. Konsten att hitta defekta transistorer
utan att avsevärt försämra de felfria är svår.

Enligt AB Åtvidabergs Industrier har dock
transistorerna fortfarande vissa svagheter.
Spridningen i strömförstärkning är mycket
stor mellan olika exemplar av samma typ och
variationer mellan 10 och 100 (i koppling med
gemensam emitter) förekommer ofta. Kretsarna
måste därför utföras med stora marginaler.
Normala transistorer har vid rumstemperatur

TEKNISK TIDSKRIFT 1 960 H. 5 123

<< prev. page << föreg. sida <<     >> nästa sida >> next page >>


Project Runeberg, Tue Dec 12 02:44:47 2023 (aronsson) (download) << Previous Next >>
https://runeberg.org/tektid/1960/0149.html

Valid HTML 4.0! All our files are DRM-free