Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
132
INDU STRITIDNINGEN NORDEN
Våra längd- och ändmått samt deras kontrollering.
Av ingenjör Wilhelm, Engström.
Föredrag i Stockholms allmänna teknikerförbund d. 21 mars 1927. (Föredragshållarens manuskript för Ind. Norden.)
(Slut Jr. föreg, nr.)
Provets praktiska utförande.
För provning av planheten av passbitens mätyta
erfordras i regel inga särskilt komplicerade anordningar.
Det planglas, fig. 8, som i allmänhet användes för
dylika undersökningar, är tillverkat av s. k. optiskt glas
med en noggrannhet av 0,1 [i1. Planglaset lägges eller
skjutes utan tryck på passbitens yta, som måste vara
väl rengjord. Härvid uppkomma då genast
interferens-linjerna. Bättre än dagsljuset är det gula natriumljuset,
vilket på ett enkelt sätt kan åstadkommas med
tillhjälp av en bunsenbrännare (fig. 9), i vars låga
införes en asbestveke, som är inpregnerad med
koksaltlösning. Med detta ljus får man genast fullt tydliga
interferensbilder, utan att först behöva ägna
rengöringen av planglaset och passbiten den minutiösa
noggrannhet, som erfordras vid användandet av dagsljus.
Fig. 8. Planglas för inter-
ferensandersökningar.
Fig. 9 (h. bilden).
Bunsenbrännare för
åstadkommande av gult
natrium-Ijus.
Att med siffror bestämma och ur interferensbilderna
utläsa den exakta avvikelsen från, om vi så få uttrycka
oss, den optiska planheten, är ett studium för sig, som
fordrar stor erfarenhet och övning. Vi kunna därför
inte närmare ingå härpå, utan endast med ledning av
några typiska interferensbilder visa, huru man så att
säga rent verkstadsmässigt är i stånd att kontrollera
ytans beskaffenhet ur precisionssynpunkt.
För vanliga mätytor, exempelvis hakmått o. dyl.,
torde ytan vara tillräckligt noggrann om över huvud
taget interferenslinjerna framträda, enär detta i och
för sig förutsätter ytor av en viss godhetsgrad. För
passbitar och andra noggranna ytor är detta inte
tillräckligt utan man måste kunna klarlägga graden av
planheten och dessutom utöva en fortlöpande kontroll
på avnötningen av desamma. Fig. 10 visar några
typiska interferensbilder vid passbitar av vilka vi, med
tillhjälp av vad förut sagts, kunna skaffa oss ett klart
begrepp om ytornas beskaffenhet.
I fig. 10 a visas interferenslinjerna vid en väl plan
passbit. Detta karakteriseras därav att
interferenslinjerna löpa raka, parallelt och med lika avstånd från
varandra. Fig. 10 b visar en yta som är konvex eller
1 « = en mikromillimeter = tsVtt mm.
d. e
Fig. 10. Typiska interferenslinjer vid passbitar.
konkav, karakteriserad genom de ringformiga linjerna.
Om ytan är konvex eller konkav kan man övertyga
sig genom att lätt trycka på planglaset mitt över
mät-ytan, varigenom interferenslinjerna, som förut påvisats,
vandra från det tunnare luftskiktet mot det tjockare.
Således om linjerna vandra utåt, i detta fall, är ytan
konvex, och om de vandra inåt konkav. Fig. 10 c visar
ett fall, där passbiten vid de båda ändarna är plan,
men på mitten en fördjupning med plan botten.
Höjdskillnaden är ungefär 4 linjebredder, och då varje
linjeavstånd motsvarar en höjdskillnad av 0,3 [j, äro således
fördjupningarna lika med 1,2 [j. Vid fig. 10 d är den
högra sidan svagt böjd, men enär linjerna ligga långt
isär torde den kunna anses vara praktiskt taget plan.
Den vänstra är starkt böjd och utav antalet linjer att
döma om flera tusendels millimeter. Vid tunna
passbitar uppkomma ofta bilder liknande fig. 10 e. Dessa
härröra från att passbiten slagit sig, antingen genom
inre molekylära förändringar eller ovarsam behandling.
Om interferensbilden vid passbitens anhäftning till en
tjockare åter antager normalt utseende, har denna
formförändring ingen betydelse.
Läget av interferenslinjerna är beroende av ytans
beskaffenhet, föroreningar, fina stoftkorn e. dyl. emellan
planglaset och mätytan. Därför förändras också bilden
vid förskjutning av planglaset eller vid förnyat
påläggande, men bibehåller dock sitt karakteristiska
utseende. Ett exempel torde förtydliga detta: I fig. 11
visas en passbit, som till vänster har en plan yta, vilken
Fig. 11. Interferenslinjernas förändring vid planglasets
olika påläggning.
till höger övergår i en takformig. Lägges planglaset på
den vänstra ytan erhålles en interferensbild sådan den
visas överst till höger, där interferenslinjerna till
vänster löpa parallellt, vilket visar en plan yta, under det
de till höger övergå i vinkelformade linjer, vilka
samtidigt visa att de båda sneda sidorna luta nedåt. Vid
lutning uppåt skulle linjerna gå åt motsatt håll. Lägges
planglaset på den högra takformiga ytan, så bliva
interferenslinjerna annorlunda, såsom visas å nedre bil-
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
