Full resolution (TIFF) - On this page / på denna sida - Mikroskopavläsning vid galvanometrar och elektrometrar. Av doc. G. Ising
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
opak del av det rörliga systemet (t. ex. en vid detta fäst
visare) och på en okularskala iakttager förflyttningen av
visarebildens kant. Denna metod ger emellertid relativt
dålig skärpa såsom framgår av fig. 1.
Den övre figuren (a) visar ljusintensitetens fördelning i
närheten av bildkanten, då ett mikroskopobjektiv med vanlig
cirkulär bländareöppning inställts på kanten av ett lysande
halvplan1. — Figuren är beräknad av en fransk astronom
Cn. André, som på 1870-talet studerade diffraktionens
inverkan på astronomiska observationer2. Såsom ordinata är
avsatt ljnsintensiteten, såsom abscissa en variabel m, som
karakteriserar läget i bilden av den ifrågavarande intensiteten.
I m ingå dessutom våglängd, förstoring och numerisk
aper-tur; m = o representerar kanten av det lysande halvplanets
bild, sådan denna skulle bliva enligt den geometriska optiken.3
Enligt den geometriska avbildningsteorien skulle intensiteten
1 De olika ytelementen av detta betraktas såsom av varandra oberoende
(inkohärenta) ljuskällor.
2 Annales de VEcole normale supérieure (Ser. Il) V, s. 275—354, 1876.
3 Om l betecknar våglängden, A objektivets numeriska apertur, N
förstoringen och x avståndet i mikroskopets bildplan från halvplanets kant till
den punkt, där intensiteten sökes, så är
2 it A x
m – lN
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
