Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
63 INDUSTRITIDNINGEN NOR D E N
D
CD’
C
B A’
B’
Fig. 4. Kontrollering av
ändytors parallellism.
Fig. 5. Kontrollering av längden.
lande ljusets våglängd. Man kan sålunda uppmäta
ytornas avvikning i våglängder och sålunda i
mikro-ner, ty de olika våglängderna hava blivit med mycken
noggrannhet bestämda genom talrika undersökningar.
Man ser omedelbart, huru det är möjligt att tillämpa
detta förfarande vid undersökning av ytan hos en
måttdel, om man har en yta av glas, fullkomligt plan.
Kontrolleringen av planheten hos en glasskiva sker på
samma sätt, varvid man såsom reflekterande yta
använder en vätskeyta.
Kontrolleringen av planheten hos ytan av en
mått-satsdel sker på det sätt att man placerar glasskivan på
denna yta en smula lutande mot densamma efter
anbringande av en droppe alkohol på ytan. Man
observerar därefter det av det tunna vätskeskiktet
reflekterade ljuset. Om interferensbanden äro raka och
parallella för tvenne olika lägen av glasskivan på
mått-satsdelens yta, så är ytan plan. Om banden äro böjda,
betyder detta att ytan icke är plan och man kan av
bandens form bedöma avvikningen hos ytan från en
planyta. I själva verket angiva banden ytans
ojämnheter, varigenom man kan erhålla ytans olika
punkters avvikning med en noggrannhet av 0,02 fj.
Nödvändigt är emellertid, att ljusstrålarna äro parallella, och
att de äro så monokromatiska som möjligt. I praktiken
nöjer man sig med att kontrollera planheten på
ungefär 0,1 v när, och man retuscherar måttsatsdelen på
slipmaskinen, till dess detta resultat erhållits.
Kontrolleringen av ändytornas parallellism och
längden av måttsatsdelarna sker genom jämförelse med en
jämförelsemåttsatsdel av näraliggande mått, vilka
kontrollerats i sin tur medelst en interferensometer enligt
Pérot och Fabry. Man placerar den måttsatsdel, som
skall kontrolleras, bredvid jämförelsemåttsatsdelen på
en fullkomligt plan yta, varpå man jämför de övre
ytorna av båda.
För detta ändamål anbringar man på övre ytan av
jämförelsemåttsatsdelen en glasskiva, som stöder mot
kanten AB (fig. 4), och som lutar något mot denna
yta, så att det bildas interferensband, parallella med
AB. Samtidigt bildas även interferenslinjer på den
andra måttsatsdelen. Om de båda ändytorna hos den
senare äro parallella liksom hos den förra, äro de båda
systemen av interferensband parallella och hava
samma avstånd mellan banden.
Lämpligen observerar man
banden för tvenne olika mot varandra
vinkelräta lägen, varvid
jämförelsemåttsatsdelen är fix. Om de två
systemen av band äro parallella
för båda lägena, så äro ändytorna
hos den måttsatsdel, som
undersökes, parallella. Om detta icke är
fallet, kan man bestämma felets
storlek, inen i praktiken retuscherar man måttsatsdelen
på slipmaskinen, till dess man erhåller en parallellism
på ungefär 0,1 [i, som motsvarar en avvikning, som
är lätt att observera, hos de båda bandsystemen. Om
t. ex. B’C’ (fig. 4) är 0,1 /i under det plan som
bestämmes av A’D’, observerar man de med streckade linjer
utmärkta banden i stället för de med heldragna
linjer-utmärkta.
Kontrolleringen av längden sker omedelbart efter
kontrolleringen av parallellismen. Glasskivan berör en
av måttsatsdelarna vid A’ (fig. 5) och den andra vid
B’. Om längden av de båda delarna är lika, ligga
banden i de två systemen i varandras förlängning.
Skillnaden i längd mellan tvenne måttsatsdelar är
lika med skillnaden i avstånd, med ombytt tecken, från
en punkt vilken som helst M (fig. 6) i glasets plan
till båda delarnas överytor, om underytorna vila på
samma plan.- Bandsystemen möjliggöra att beräkna
dessa avstånd, då man har reda på det använda ljusets
våglängd. Om man t. ex. från M till B observerar
ett avstånd lika med m gånger avståndet mellan
banden, så är avståndet från M till den vänstra
måttde-7)1 A
lens övre ändyta — då l är våglängden hos det an-
vända ljuset. På samma sätt, om man observerar från
M till B’ n gånger avståndet mellan banden, så är av-
1Calibne é vérifier
Fig. 7. Absolut mätning medelst interferensometer.
fi Si
ståndet från M till den högra måttdelens övre yta —.
Höjdskillnaden mellan måttdelarna är sålunda (n—m)
I fig. 5. visas ett exempel, vid vilket måttdelen till
A
höger är eller ungefär 0,5 </ kortare än måttdelen
till vänster.
Man kan med ögat bestämma bandens avstånd på
mindre än en fjärdedel av dess värde och därigenom
skillnaden i längden av måttdelarna på mindre än 0,07
u, när, vilket är betydligt mera än som erfordras
fölen verksam kontroll.
För jämförelsekontrollen använder man en apparat,
vid vilken ljuset alstras av en
Cooper-Hewitt-kvick-silverlampa och får falla mot vätskeskiktet mellan
glasskivan och måttdelen. Då vätskeskiktet är
mycket tunnt, är det icke nödvändigt att vid kontrollen
använda parallella ljusstrålar eller att göra
observationerna i en kikare, som bestämmer en viss
infallsriktning. Felen, som härröra härav, äro i själva verket
mycket små. Ej heller behöver man medelst grönt glas
avstänga lampans dominerande gröna ljus. För
precisionsmätningar med interferensometer är detta annars
nödvändigt.
Fig. 2 visar huru interferensbanden te sig på tvenne
måttsatsdelar vid den apparat, som användes för
kontrolleringen.
Medelst apparaten möjliggöres en mycket snabb
kontrollering. En arbetare kan sålunda kontrollera 100
måttsatsdelar om dagen med en sådan noggrannhet
att felet är mindre än 0,07a.
Fig. 6.
Längdkontrol-lering medelst
observation av
interferensband.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
