Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
Metoder och mätapparater för fotometriska storheter
faktorn e2n/". Produkten n* betecknas ex*
tinktionskoefficient. Brytningsindex och
extinktionskoefficienten kunna experimen*
tellt bestämmas ur huvudinfallsvinkeln
och huvudazimuten.
* = tg 2v0;
nV l + ^2 = sin qp0 tg <p0
bör reflexionsförmågan ger den elektro*
magnetiska vågrörelseteorin:
n2(l+Q + l—2n
r~ n2(l+*2) + l + 2n
Experimentella data framgår av Fysika=
liskt=tekniska tabeller, tab 46 och 47.
Experimentellt bestämmes reflexions*
förmågan antingen med en konkav spegel
eller en planspegel av ifrågavarande me*
tall. Vid användning av konkavspegel an*
vändes en trådformig ljuskälla belägen
strax utanför spegelns medelpunkt och
strax intill axeln. En bild erhålles strax
innanför spegelns medelpunkt. Den ur*
sprungliga ljuskällan och bilden jämföras
spektralfotometriskt med varandra. Vid
användning av plan spegel användes så
liten infallsvinkel som möjligt.
Diffus reflexion
Infaller ljusströmmen ^ mot en diffust
strålande yta och utsänder den ljusström*
men R • så definieras R som den diffusa
reflexionskoefficienten. Ingen yta utstrå*
lar allt ljus som faller på den. Bland de
bäst diffusstrålande ytorna är magnesium*
karbonat med diffusa reflexionskoefficien*
ten = 0,98. Vid experimentella bestäm*
ningar belyses den yta, som skall under*
sökas, och belysningen betecknas med E
Lux. Den observerade ljustätheten beteck*
nas med B Sb.
E
Härvid förutsattes, att Lamberts cosinus*
lag gäller. Är så icke fallet, så måste ljus*
tätheten i olika riktningar bestämmas och
sedan det totala ljusflödet bestämmas ge*
nom grafisk integration.
Antireflexion
I ett flertal fall speciellt vid linssystem,
är reflexionen besvärande. Den stör på
två olika sätt, dels genom att ljusstyrkan
minskar och dels att s. k. spegelfläckar
och slöjbildning uppträder. Vid moderna
linssystem korrigerade för olika sorters
avvikningar kan ljusförlusterna genom
reflexion uppgå till 30—60 %. Består ett
linssystem av n st. fria linser bli reflex*
bildernas antal n(2n—1).
Antal linser eller
glasskivor 1 2 3 4 5 6
Antal reflexbilder 1 6 15 28 45 66
Genom att belägga de brytande ytorna
med ett tunt lager av ett s. k. antireflex*
skikt kan reflexionsförlusterna nedbringas
till ett minimum. Om belysningsindexen
för de båda materialen på båda sidorna
betecknas med nt och n2, så skall anti*
reflexskiktets brytningsindex vara lika
med Vntn2. Optik med antireflexskikt be*
tecknas av Zeissfirman med T*optik. Vi*
dare skall antireflexskiktets tjocklek vara
1/4, 3/4 eller 5/4 våglängd. Teoretiskt sett
skulle betingelserna blott gälla för mono*
Skiktets tjocklek
1 I grönt 3 / grönt . ..
a –-b — —.–-c = ut an skikt
4 nt 4 n.
Fig. 3/16 a. Transmissionskurvor för en
enkel lins med och utan antireflexskikt.
ALLMÄNNA DELEN
761
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
