Full resolution (TIFF) - On this page / på denna sida - Mikroskopavläsning vid galvanometrar och elektrometrar. Av doc. G. Ising
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
ensamt passerar förbi upp i 03 och okularet. Såsom
vertikal-iJluminator användes antingen i enlighet med figuren en plan
glasskiva med baksidans mitt svärtad eller bättre, för
erhållande av starkare belysning, en spegelremsa eller ett
rätvinkligt glasprisma av passande storlek. Denna anordning enligt
Fig. 4. Kvartstråd med diam. Fig-5. Motsvarar fig. 4 utom däri,
0.004 mm. Förstoring = 925 ggr.; att mikroskopet efter skarp in-
belysningen sannolikt en smula ställning framsköts ung. 0.008
osymmetrisk. mm.
fig. 2b är emellertid åtskilligt svårare att injustera än den
som visas i fig. 2a, där man har ett särrkilt
belysningsobjektiv.
Fig. 3—8 visa fotografier av den diffraktionsfigur, som på
detta sätt erhålles i bildplanet, tagna med en anordning
enligt fig. 2a. Härvid voro de båda objektiven 02 och 03
liksom oknlaret (i de fall då ett sådant användes) monterade i
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
