Full resolution (TIFF) - On this page / på denna sida - Mikroskopavläsning vid galvanometrar och elektrometrar. Av doc. G. Ising
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
Mikroskop avläsning vid galvano- och elektrometrar 63
en gemensam metalltub1, som kunde mikrometriskt förskjutas
även i sidoled. För bestämning av förstoringen togos på varje
plåt minst tvenne bilder, mellan vilka mikroskopet flyttades
i sidoled en känd sträcka. Fig. o visar sålunda tre
successivt tagna bilder, fig. 6, 7 och 8 vardera två. För
belysningen (Oj) användes en Leitz’ akromat 1 med numeriska aper
Fig. 6. Kvartstråd med diam. 0.017 mm. Förstoring =
1817 ggr.; mikroskopets sidoförflyttning
= 0.0203 mm.
turen 0,100. Såsom objektiv 02 användes, utom i fig. 6, ett
Zeiss’ AA med numeriska aperturen 0,321, vars mittparti
övertäckts genom en påklistrad rund papperslapp motsvarande
aperturen 0.185; i fig. 6 utgjordes 02 av en Leitz’ akromat 5
1 Det kan emellertid vara lämpligare att montera observationsobjektivet
02 för sig, exempelvis fäst direkt vid höljet till det instrument, vars visare
skall observeras. Därigenom minskas nämligen högst väsentligt möjligheten
för störningar genom mikroskopstativets värmeutvidgning.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
