Full resolution (TIFF) - On this page / på denna sida - Användning av elektronstrålning vid studiet av kristaller. Av professor G. Aminoff och fil. kand. B. Broome
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
strålen, och konstruera de interferensriktningar, vilka kunna
registreras exempelvis på en genom O tänkt plåt (pp i fig. 7),
varvid motsvarande hhl direkt erhållas ur konstruktionen.
Den EwALD^ska konstruktionen låter oss på ett enkelt sätt
överblicka olikheterna mellan de fotogram, vilka erhållas med
röntgen- resp. elektronstrålar. I fråga om de experimentella
betingelserna skilja sig elektronfotogrammen från
röntgenfoto-grammen dels med avseende på den använda våglängden, dels
med hänsyn till de genomstrålade kristallernas dimensioner.
Vid framställningen av elektronfotogram användas numera i
regel våglängder omkring 0.05 Å, vilket betyder, att
utbredningssfärens radie blir mycket stor i förhållande till avstånden i
det reciproka gittret (jmfr fig. 8a). Vidare kunna —tillskillnad
från vad som gäller för röntgenstrålar — påvisbara interferenser
erhållas från mycket små objekt. På grund av den ringa
genomträngningsförmågan utväljer elektronstrålningen även ur en
större kristall ett effektivt gitterområde, som i åtminstone en
dimension har ytterst ringa utsträckning. Då det genomstrålade
gitterområdets dimensioner bli mycket små, gäller ej längre den
Ewald’ska konstruktionen strängt. En punkt i det reciproka
gittret växer ut till ett »intensitetsområde», vars utsträckning är
beroende av kristallitens storlek. Även existerar ett samband
mellan kristallitens form och formen hos intensitetsområdet,
»kristallformfaktorn», såsom särskilt framhållits av Laue (1936).
Intensiteten, betraktad som funktion av riktningen från P till
en punkt vilken som helst på utbredningssfären, har alltjämt
sitt maximum i de av (4 a) bestämda riktningarna, men äger även
för närliggande riktningar, nämligen sådana, för vilka
utbredningssfären skär intensitetsområdet, avtagande men dock
påvisbara värden.1 Intensitets områdets begränsning bestämmes
sålunda även av tröskelvärdet för den fotografiska
registreringen.
För det enkla fall att man genomstrålar ett tunt blad, kan
intensitetsområdet beskrivas som en stav, en schematiserad fram-
1 Inflytandet av strukturfaktorn och dess variation inom intensitetsområdet
har ej beaktats i denna schematiska framställning.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
