Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Interferens - Interferensmottagning - Interferometer
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
INTERFERENSMOTTAGNING
gränsytan mellan två medier uppdelas i en
reflekterad och en bruten stråle, vilka sedan
bringas att interferera. Sålunda uppkomma,
om en ljusstråle SA (fig. 7) infaller mot en
planparallell glasplatta, såväl i det reflekterade
Fig. 6. Fresnels biprisma (schematiskt).
som i det genomgående ljuset i.-fenomen, om
strålarna AC, A’C’ o.s.v., resp. BD, B’D’ o.s.v.
sammanbrytas med en lins. I det reflekterade
ljuset t.ex. bestämmes i. väsentligt av fas
differensen mellan strålarna AC och A’C’, i det
att intensiteten av de följ, strålarna snabbt
avtager. Denna fasdifferens mätes av skillnaden
mellan antalet våglängder, som falla på
sträckan ABA’ och på sträckan AE, och beror
således utom av våglängden av plåttjockleken
och infallsvinkeln. De färgspel, som uppstå i
tunna lameller och hinnor, och de s.k. N e
w-tonska ringarna, som kunna iakttagas
kring beröringspunkten mellan en glasplatta
och en konvex lins (fig. 8), bero på detta el.
närliggande fenomen (jfr Färgringar).
Dessa i.-ringar karakteriseras ss. kurvor
för lika tjocklek i motsats till det i.-
Fig. 7. (t.v.). Interferensfenomen i en
glasplatta. Fig. 8 (t.h.). Newtons ringar;
anordning för iakttagande av
interferensring-arna i såväl genomgående som reflekterat
ljus. Si och Ä2 skärmar, Pi, P2 och Pz linser.
fenomen, som kan iakttagas i en planparallell
platta med på oändligt avstånd ackommoderat
öga, s.k. kurvor för lika lutning.
Sådana observerades först av Haidinger (1849).
Ang. i.-fenomen i polariserat ljus se
Polarisation. — Kännedomen om i.-fenomenen,
som väsentligt utvecklades i början av
1800-talet, gav det avgörande beviset för ljusets
vågnatur och gjorde det även möjligt att
bestämma ljusets våglängd. Praktisk
användning har ljusets i. fått bl.a. för ytterst
noggrann längdmätning (se d.o.) och för
undersökning av ytor och plattor på planhet och
planparallellitet. En apparat, som grundar sig
på användning av i.-fenomen, kallas en i
n-terferometer (se d.o.). — Litt.: Förutom
handböcker och läroböcker i fysik och optik
(se art. Fysik) A. A. Michelson,
”Light-wa-ves and their uses” (1903); E. Gehrcke, ”Die
Anwendung der Interferenzen in der
Spektro-skopie und Meteorologie” (1906); O. Klein,
”Vad vi veta om ljuset” (”Natur och kultur”,
41—42, 1925). N.B-e.
Interfere’nsmottagning, se Radio.
Interferome’ter, apparat, grundad på
användning av ljusets interferens (se d.o.). Vid
Michelsons i. får ljus infalla under 45°
Michelsons interferometer (schematisk bild).
vinkel mot en halvgenomskinligt försilvrad
glasplatta P (se fig.). En del av ljuset
reflekteras av P och infaller vinkelrätt mot
planspegeln Si, den andra delen brytes i P och
infaller därpå vinkelrätt mot planspegeln S2.
Båda strålarna återkastas således i sig själva
och träffa åter P, varvid de ånyo uppdelas.
De delar, som därvid brytas, resp, reflekteras.
— 1191 —
— 1192 —
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
