Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Sidor ...
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
20 april 1929
MEKANIK
ningar) företaga dessa mätningar. För att fullt förstå
användningen av denna metod torde det vara
nödvändigt att i korthet klargöra principerna härför.
I fig. 11 tänkes en passbit, av obekant storlek
fast-sprängd på en kvartsplatta, på något ställe i det
kil-formiga rum, som bildas emellan kvartsplattan och
planglaset. Man tänker sig passbitens övre yta
förlängd tills den skär det övre vinkelbenet. Vidare är
angivet läget av de ljusa interferenslinjerna i de båda
av kvartsplattan och passbitens övre yta bildade
luftkilarna (för kvartsplattan angivna med dragna oc.h
för passbiten med streckade linjer). Omedelbart
härunder visas dessa linjer i plan, varav framgår, att
interferenslinjerna å passbitens yta äro något
förskjutna i förhållande till kvartsplattans. Avståndet
emellan de båda kilspetsarna motsvarar ett bestämt
antal interferensband, i fig. = 3,9 eller i allmänhet
S = px + ev varvid px betyder ett visst antal fulla
interferensband och e1 överskridande bråkdelar.
Avståndet emellan tvenne ljusa eller tvenne mörka
interferensband är, som förut nämnts, lika med en halv
våglängd. Vid en luftkil emellan de båda ytorna av
likformigt tilltagande tjocklek, betyder detta att
höjdskillnaden emellan exempelvis tvenne ljusa band
är lika med en halv våglängd, eller om vi förutsätta
grönt heliumljus, som har en våglängd av oo 0,501 ju,
en höjdskillnad av cv> 0,25 fi. En passbit av 1 mm
har en tjocklek av 2 000 Xh, vilket skulle motsvara
4 000 interferenslinjer. Om vi antaga ett linjeavstånd
(beroende av kilvinkeln) utav 1 mm, så skulle kilen
få en längd av 4 m. Detta är praktiskt otänkbart.
Även om det skulle tänkas vara möjligt, skulle det
vara omöjligt att från kilspetsen kunna följa och
räkna dessa linjer (i fig. = 3 på avståndet S).
Förhållandet är här således något annorlunda än vid
jämförande mätningar, där man i regel endast har att
göra med höjdskillnaden av 1 fi eller ca. 4
linjebredder, som ledigt få plats på passbiten även om
kilvinkeln är mycket liten, då däremot vid
absolutmätning 4 000 linjer omöjligt skulle få plats.
Man måste således här följa en annan väg för att
kunna bestämma hela antalet interferenslinjer på
avståndet pv Bråkdelen ^ är förhållandevis lätt att
finna, enär den representerar avståndet emellan tvenne
närliggande mörka eller ljusa linjer på kvartsplattans
och passbitens yta och kan lokaliseras var som helst
på dessa, förutsatt naturligtvis att de äro parallella,
Avståndet e1 mätes härvid alltid från linjerna på
kvartsplattan, följande linjerna på passbiten i riktning
mot kilöppningen. I vilken riktning denna ligger
framgår, som förut påpekats, genom ett tryck på
planglaset, då linjerna vandra mot kilöppningen.
Använda vi oss av ljus utav annan våglängd /2,
låt oss säga blått ljus (0,471 ju), så erhåller man en
liknande interferensbild med den skillnaden att
linjerna rycka närmare varandra, på grund av den
kortare våglängden. I detta fall (se fig. 11, nedre bilden)
blir antalet linjer till kilspetsen 5,25 eller i allmänhet
5 = p2 -j- e2. I enlighet med vad nyss sagts är så-
ledes passbitens tjocklek d = (p -)- é) ~ = (p2 +
+ e2)-2.
I dessa båda ekvationer äro Xx och a.2. ex och s2
bekanta, d, p1 och p2 däremot obekanta. Två ekvationer
med tre obekanta äro i allmänhet olösbara. En
lösning är emellertid möjlig om vissa förutsättningar för
de obekanta faktorerna föreligga. Dessa äro: att px
och p2 måste vara hela tal, vidare måste passbitens
tjocklek d vara bestämd inom gränserna av några fi
(exempelvis genom mikrometer e. d.), så att man kan
angiva tvenne gränsvärden, som måste ligga emellan
och p2. Man insätter sedan de emellan dessa
gränsvärden förekommande tal i den ovan angivna
ekvationen och beräknar därav p1 -f- och samtidigt även
de olika värdena på ei: dvs. bråkdelen över det
samtidigt givna hela talet. Därvid inträffar endast en
gång fallet att det beräknade värdet på e1
sammanfaller med det avlästa. Det i räkningen använda
värdet på p1 är då det sökta, på samma sätt får man
värdet av p2. I det man nu insätter i ekvationen de
sålunda funna värdena av p1 och p2 samt de avlästa
värdena av st och e2 kan man beräkna två värden för
d, av vilka man tager det aritmetiska mediet. För
att vara alldeles säker, nöjer man sig inte med två
värden på e utan använder sig av flera, dvs. man utför
mätningen, inte endast med tvenne spektrafärger utan
t. e. vid användning av heliumljus medtages hela
spektrat, dvs. den violetta, blå, grönblå och röda
spektrallinjen.
Ett exempel torde bättre förtydliga gången av
beräkningen.
Exempel på kontrollmätning av en 1,1 mm passbit
medelst Ijusvåglängder.
Passbitens tjocklek d = 1,4 mm (nominellt).
Detta mått är uppmätt med en osäkerhet av ± 1 fi.
Gränsvärdena bliva således 1, 399 och 1, 401 mm.
Uppmätta bråkdelar e:
Böd Gul Grön Violett
Första iakttagelsen ...... 0,25 0,80 0,85 0,20
Andra „ ...... 0,30 0,90 0,95 0,25
Medeltal ................ 0,28 0,85 0,90 0,23
Ljusvåglängder:
Aj = 0,6678183 fi (röd), l2 — 0,5875654 fi (gul),
l, = 0,5015705 fi (grön), ^ = 0,4471503^ (violett),
d 2 ■ d
p1 — antalet hela interferensband — — =-t— =
a A
2
2- 1,B99= 4 190 bamL
0,6678183
d 2 ■ d
pl = antalet hela interferensband = — =––––nax’ =
A k
2
= =4 196 band.
0,6678183
Således pt + £l = 4 190,28 till 4 196,28.
Samtliga gränsvärden för Äv X2, ks, Å4 beräknas på
samma sätt och uppställas i en aritmetisk
progression, varvid följande värden erhållas:
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
