Teknisk Tidskrift / 1935. Allmänna avdelningen / 49 (1871-1962) Table of Contents / Innehåll | << Previous | Next >>
	Project Runeberg | Catalog | Recent Changes | Donate | Comments? |

Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Häfte 7. 16 febr. 1935 - Om användande av ljusinterferenser vid längdmätningar, av Y. Väisälä

<< prev. page << föreg. sida <<     >> nästa sida >> next page >>

Below is the raw OCR text from the above scanned image. Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan. Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!

This page has been proofread at least once. (diff) (history)
Denna sida har korrekturlästs minst en gång. (skillnad) (historik)

Teknisk Tidskrift

HAFT. 7
ÅRG. 65

UTGIVEN AV SVENSKA TEKNOLOGFÖRENINGEN

HUVUDREDAKTÖR: CARL KLEMAN

16 FEBR.
1935

INNEHÅLL: Om användande av ljusinterferenser vid längdmätningar, av professor Y. Väisälä. — Svenska
industriens praktiknämnds verksamhet under år 1934. — Notiser. — Tekniska föreningar. — Sammanträden.

OM ANVÄNDANDE AV LJUSINTERFERENSER VID

LÄNGDMÄTNINGAR.

Av professor Y. Väisälä.

Sedan periodiciteten vid ljusfenomenet, dvs.
ljusets vågrörelsenatur, hade blivit upptäckt, ha
forskarna strävat att bestämma ljusvåglängden. De
första noggrannare mätningarna utförde Fraunhofer,
när han med ett gitter bestämde våglängden för
talrika mörka linjer i solspektrum. Fraunhofer liksom
alla senare forskare under de följande decennierna
använde ljusets böjningsfenomen. Arbetet
upprepades med förbättrade instrument och i större
omfång av svensken Ångström, efter vilken
tiomilliondelsmillimetern fått namnet en ångström. Till
högsta noggrannhet utvecklades gittermetoden slutligen
av Rowland.

Vida större noggrannhet vid bestämningar av
ljusvåglängden erhöll Michelson med
interferensmätningar. Dennes mönstergilla mätning av den röda
kadmiumlinjens våglängd för ca 40 år sedan var av
sådan noggrannhet, att den icke har kunnat
väsentligen överskridas. Mätningen upprepades senare med
ändrad metod av Benoit, Fabry och Perot, vilkas
resultat, som stämmer väl med Michelsons värde, man
beslutat lämna oförändrat vid spektroskopiska
arbeten. Det ursprungliga problemet har sålunda blivit
omvänt: man använder nu de noggrannaste
interferensmätningar till undersökning av möjliga
ändringar i vårt metersystem. Noggrannheten vid dessa
mätningar, som nu för tiden utföras vid olika
institut, är lika stor som vid jämförelse av olika
meterprototyper med varandra.

Ljusinterferenser begagnas allt mera och mera för
mätningar, där stor noggrannhet behöves. I
synnerhet lämpa sig interferensmetoder för mätning av
relativt korta längder, såsom till mätning av
kropparnas dilatationskoefficient och
elasticitetskoeffieient, till kontrollering av optiska ytor vid optiska
verkstäder osv. Vid sådana mätningar begagnar
man mest interferenslinjer av lika tjocklek, vilka som
bekant alstras på följande sätt.

Vi betrakta två speciella ljusstrålar, som utgå
från punkten O₁ (fig. 1 a). Den ena strålen O₁ABC
brytes på den övre ytan av den svagt kilformiga
(glas)plattan K, reflekteras från den undre ytan (B)
och brytes åter i punkten C. Den andra strålen O₁C
reflekteras i punkten C. I nämnda punkt träffa alltså
de båda ifrågavarande strålarna varandra, och, då
ljuset är vågrörelse, förstärka eller försvaga
svängningarna varandra (interferensfenomen),
allteftersom de i punkt C hava samma eller motsatt fas.
Fasskillnaden beror på den optiska vägskillnaden mellan
strålarna O₁ABC och O₁C, och denna beror på
plattans tjocklek, dess brytningskoefficient och på den
vinkel, strålen AB bildar med ytan B. Man kan
avbilda ljusfenomenet i C medels linsen L (t. e. ögat)
till punkten O₂, och där alstras naturligtvis samma
ljusfenomen som i punkten C, då mellan de
ifrågavarande strålarna ingen ytterligare fasskillnad
uppstår från punkten C till O₂. Låter man punkten C
röra sig på ytan, så ändras i allmänhet fasskillnaden,
och man ser, att på den övre ytan av plattan alstras
ljusa och mörka interferenslinjer.

Man kan få interferenslinjerna synliga på ett större
område med en hjälplins (fig. 1 b). Strålarna komma
här nästan lodrätt på två glasskivor P₁, P₂, som
bilda en liten vinkel mellan varandra. Fasskillnaden
beror huvudsakligen på skivornas inbördes avstånd,
och interferenslinjerna kallas därför linjer av samma
tjocklek. Linjerna
motsvara fullkomligt
höjdkurvor å en topografisk
karta, men
höjdskillnaden mellan de
närliggande kurvorna är
utomordentligt liten,
nämligen en halv
ljusvåglängd, dvs. vid det
gula ljuset ca 0,0003 mm.
Om de mellanliggande
ytorna äro strängt
plana, bli kurvorna
ekvidistanta och parallella
räta linjer. Med en
dylik anordning kan man
också undersöka
ytornas planhet. Är den
andra ytan sfärisk, äro
kurvorna koncentriska
cirklar (Newtons
ringar, fig. 1 c).

Förstorar man
skivornas avstånd, så vandra
interferenslinjerna åt
sidan, och man kan,

Fig. 1.

<< prev. page << föreg. sida <<     >> nästa sida >> next page >>