Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Häfte 36. 7 sept. 1935 - Moderna mätningsmetoder inom verkstadsindustrien, särskilt användningen av optisk-mekaniska precisionsinstrument, av O. P. van Steewen
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
Fig. 28. Apparat för mätning av gängade spindlars stigning.
7 sept. 1935
Fig. 27. Zeiss’ verktygsmikroskop med körnareanordning.
Fig. 32. Gängmätning med mikrometer
och mättrådar.
stycken med stora diametrar (fig. 24 och 25) liknar
passimetern, men är försett med utbytbara i änden
kulformiga mätstift, det ena fast samt det andra
rörligt och kombinerat med en utefter en skala gående
visare. Även denna apparat inställes för mätningen
på det rätta måttet, och vid mätningen angiver
visaren den förekommande avvikelsen från detta.
För verkstaden, avsyningen. verktygsrummet och
mätlaboratoriet har Zeiss konstruerat ett instrument,
benämnt verktygsmikroskop (fig. 26), -som fått stor
användning för kontrollering av gängor. Prövning
kan ske av flankvinkeln, flankdiametern,
flank-vinkelns läge i förhållande till axeln, gängstigningen
samt avrundningen i gängbottnen och på
gängtopparna. Genom utbyte av revolverokular med
streck-plattor kunna alla förekommande gängor
kontrolleras. Även vinkelmätningsokular kan erhållas med
vinkeldelning från 0 till 360° och med avläsning på
1’ och uppskattning på i’.
Apparaten kan förses med
projektionsanordning för kontroll av
profiler å kugghjulständer, fräsar,
schabloner o. d. Även anordning
för fotografering finnes, och helt
nyligen har framkommit en kör-
Fig. 29. Apparaten i arbete. 1 = mutter. 2 = spindel. 3 = okular.
4 — nollskruv. 5 — optisk arm. 6 = skala. 7 —kikare för avläsning.
8 = ljuskälla. 9 = avläsning av spindelns vridningsvinkel.
nareanordning (fig. 27) för kopiering av tolkar,
profiler m. m.
För kontrollering av stigningen å gängade
spindlar har Zeiss konstruerat en specialapparat (fig. 28).
Särskilt utmärkande för denna apparat är. att man
med den kan undersöka varje spindel med den till
densamma hörande muttern, varigenom man kan
försäkra sig om, att inga felaktigheter uppstå, då de
sedermera arbeta tillsammans. Mätningen sker
genom jämförelse med en
skala, som är parallell
med spindeln. Hur
mätningen tillgår, visas
i fig. 29.
Fig. 30 visar Zeiss’
gängmätningsmikrome-
- Mötskruv
Fig. 30. Zess’ gängmätningsmikrometer.
Fig. 31. Gängmätning med mikrometer och mättrådar.
Fig. 33. Hållare för mättrådar.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
