Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - H. 20. 19 maj 1951 - Eletroniska tjockleksmätare, av SHl
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
428
TEKNISK TIDSKRIFT
Fig. 4. Mätning av tjocklek med röntgenstrålning.
cn spänning över katod och anod. Denna bestämmer
strålningens våglängd och därför dess egenskaper vid
absorption i materia (fig 3). Den del av strålningen, som
passerar genom denna, mäts med en detektor och står i
viss relation till provstyckets tjocklek.
Vid 78 kV anodspänning och 2,5 mm stål (fig. 4) medför
1 % ändring av den förra samma ändring i
detektorström-men som 2,8 % ändring av stålets tjocklek. Vid samma
punkt på kurvorna motsvarar 1 % ändring av detektorns
känslighet eller strålningens intensitet blott 0,3 %
tjockleksändring, men vid mindre tjocklekar blir mätfelet större,
om anodspänningen är konstant. Det visar sig, att
strålningsintensiteten faller mycket snabbt med fallande
anodspänning, och detta förhållande bestämmer den undre
gränsen för tjockleksmätning med röntgen. Den övre
bestäms av överslagshålllastheten. Man använder vanligen
en anodspänning på 25—150 kV.
Då det är svårt att ordna tillräckligt noggrann kontroll
av anodspänningen, använder man oftast vid
tjockleksmätning en anordning (fig. 4) med två röntgenrör, av vilka
det ena sänder ett strålknippe genom provet och det andra
genom en likare. De båda strålarna träffar omväxlande två
fluorescensskärmar, varefter det erhållna ljuset jämförs av
ett elektronikinstrument, som anger skillnaden i tjocklek
mellan prov och likare. Man kan även använda ett
röntgenrör, men måste då kalibrera instrumentet.
Radioaktiv strålning
Radioaktiv strålning används i rätt stor utsträckning för
tjockleksmätningar, särskilt om instrumentet icke får kom-
Fig. 5. Princip för mätning
av tjockleken hos tunt
material med ß-strålning.
Fig. 6. Mätning med
reflekterad ß-strålning av ett skikt
B på ett underlag A; C
skärm, D
joniseringskam-mare, E strålning skålla.
Fig. 7. Förhållande mellan materialtjocklek och reflekterad
ß-strålning.
ma i direkt kontakt med provet (Tekn. T. 1950 s. 767).
Principen (fig. 5) är att låta strålningen passera från
källan genom provet till en strålningsdetektor. Denna visar
då den genomsläppta strålningens intensitet, som beror
av provets tjocklek. Sedan anordningen kalibrerats för ett
visst material genom mätningar på prov med kända
tjocklekar, visar den direkt materialets tjocklek. För tunna prov
används /S-strålar, varvid strålningsdetektorn är en
jonise-ringskammare, vars ström går till en rörförstärkare.
Dennas visarinstrument anger tjockleken. Används stor
förstärkning, kan den process, som bestämmer produktens
tjocklek, regleras automatiskt. Instrument av denna typ
finns i handeln.
En annan metod för tjockleksmätning med jö-strålar är
att utnyttja återspridning av ^-partiklarna. Den härvid
använda apparaten består i princip av en strålningskälla
placerad utanför en joniseringskammares fönster (fig. 6).
Den är skärmad, så att strålning ej kan nå
joniseringskam-maren direkt. När intet material finns i närheten av
apparaten, sker därför strålningen utåt, och detektorn ger intet
utslag. Ett material, som placeras i strålriktningen,
reflekterar /^-partiklar, och dessa tränger genom fönstret på
sidorna om strålningskällan. Detektorn ger då ett utslag,
som beror av materialets reflektionsförmåga.
Denna är i sin tur en funktion av materialets
atomnummer och dess tjocklek. Ökas denna, växer detektorns
utslag, tills det når ett högsta värde (fig. 7 A), som är
praktiskt taget oberoende av ytterligare ökning av
materialtjockleken. Detta värde nås, när ^-partiklarna icke längre
förmår tränga igenom materialet. Motsvarande
materialtjocklek kallas ofta "oändlig". Dess storlek beror både av
strålningskällan, dvs. av ^-partiklarnas energi, och av
materialets atomnummer. Om nu ett lager av annat material
med högre atomnummer läggs ovanpå det första, växer
detektorns utslag (fig. 7 B), och ökningen blir större, ju
tjockare det andra materialet är, tills oändlig tjocklek
nåtts. Är det andra materialets atomnummer mindre än det
förstas, faller detektorns utslag i stället.
Den reflekterade strålningens intensitet beror också på
avståndet mellan material och instrument. Är detta noll,
nås detektorn naturligtvis icke av någon strålning, och den
ger inget utslag. Detta växer sedan med avståndet d
(fig. 6) till ett maximum för d Pü 10 mm. Detta är
oberoende av det reflekterade materialet och nästan oberoende av
strålningskällan.
Denna metod är synnerligen lämplig för mätning av
tjockleken hos t.ex. tenn- och zinköverdrag på stål,
färg-eller lackskikt på metallytor, gummi eller plast på
kalan-dervalsar, krom på mässing eller stål, emaljskikt och
plastisolering på tråd. Det är av vikt, att grundmaterialet har
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
