Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - H. 22. 31 maj 1955 - Kontrasttransmissionsmätare för kombinationen optik—fotoskikt, av Erik Djurle
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
534
TEKNISK TIDSKRIFT
Fig. 2. Ljusmodulering med polaroider
på A/4-platta.
Fig. 5. Reciprocitetskurva visande
sambandet mellan intensiteten I och
exponeringen It för konstant svarfning.
teckningarna i fig. 2 där cot är den genom rotation
åstadkomna varierande vinkeln mellan P^.s
polarisationsriktning och ena axeln i kvartsvåglängdsplattan (A/4-plattan)
Q och oc motsvarande vinkel för P2, fås intensiteten
efter P2 till / = c (1 + eos 2 cot • eos 2 oc).
Polaroiden P1 kan bringas att rotera med olika konstanta
hastigheter co genom en trappväxel och synkronmotorn
SMIntensiteten i spaltbilden på filmen kommer sålunda
att variera sinusformat och olika snabbt. Den samtidiga
synkrona svepningen av spaltbilden gör att på filmen fås
ett testmönster med sinusformad intensitet och olika
linjefrekvens. Kontrasten i mönstret varierar som eos 2 oc.
Genom att ändra vinkeln oc kan således önskad kontrast
erhållas, vilket är mycket viktigt emedan man bör kunna
ställa in så, att man använder önskad zon inom den raka
delen av filmens svärtningskurva (Tekn. T. 1955 s. 519).
Ljusets modulering blir sinusformad för vitt ljus endast
under förutsättning att polaroider och Ä/4-platta saknar
dispersion. De moderna polaroiderna uppvisar mycket liten
skillnad för olika färger, varför de uppfyller
godhetskraven. Kvartsvåglängdsplattan är av glimmer. Dispersion hos
den liksom hos de flesta andra material är av sådan
storlek att den inverkar ogynnsamt om visst ljus används,
varför undersökningar bör göras med monokromatiskt ljus,
dvs. F skall vara ett interferensfilter. Detta är önskvärt
även därför att, efter vad som sagts, ljusdiffusionen, som
man vill undersöka, är starkt våglängdsberoende.
P3 är en polaroid, som är vridbar i förhållande till P2 så
att lämplig intensitet på ljuset erhålls för exponeringen.
Användning för enbart optik
Vid undersökning av enbart optik modifieras apparaten,
fig. 1 nedtill (en tidigare konstruktion). Spalten S placeras
i kamerans fokalplan och bilden av den i kollimatorns
fokalplan får svepa över ett testmönster T, som har formen
a0 + a sin 2 nNx. Det ljus som går igenom mönstret mäts
av en fotocell och registreras med skrivare. Ur
registreringen beräknas sedan objektivets kt-kurva4.
Fig. 3. Upptill ljusfördelningen f (u) i bildplanet från
objektivet, i mitten diffusionsfunktionen h(w), nedtill
uppbyggnaden av E(u), endast några diffuserade spaltbilder
inritadè.
Fig. 4. Spaltens avbildning på filmen;–-ljusfördelningen
i skiktet E (u), - E (u) multiplicerad med den
modulerade intensiteten g (x — u), t.v. totala belysningen —
streckade kurvan för ett maximivärde, t.h. motsvarande
totala belysning för ett minimivärde.
Mätområde
Förhållandet mellan Pt:s rotationshastigheter och
därigenom antalet linjer/mm för de olika testgrupperna, totalt
18 stycken, är n För ett objektiv med 50 mm brännvidd
är apparatens hela område 4,7—240 linjer/mm. För
objektiv med kortare resp. längre brännvidd fås motsvarande
högre och lägre värden. Apparaten är beräknad att kunna
användas för objektiv med upp till 150 mm brännvidd och
en linsöppning av 45 mm.
Sambanden mellan kt-funktionerna
Med denna apparat får man givetvis inte skiktets
kt-kurva ensam utan kombinationen av denna och
fotoobjektivets, vilket också är vad man oftast praktiskt önskar. Vid
avbildningen av spalten på filmen erhålles en
ljusfördelning som beror på objektivet. Vi kan kalla den f (u), där
u är koordinaten vinkelrätt mot spalten, fig. 3 t.v. Då
denna ljusfördelning träffar det fotografiska skiktet kommer
ljuset att diffuseras av det. Diffusionen har ofta antagits
följa en exponentialkurva, så att ljuset i skiktet från en
smal spaltbild på det kan skrivas h [w) = e-Alwl, fig. 3 i
mitten. Ljusfördelningen E (u) i en punkt u i skiktet fås
genom att enligt fig. 3 t.h. summera ordinatorna för det
diffuserade ljuset från en mängd spalter, som ligger tätt intill
varandra, E (u) = J/ [u — w) h [w) dw. Maximalvärdet för
de olika h [w)-funktionerna är bestämt av funktionen / [u).
Då spaltbilden E [u), streckade kurvan i fig. 4, vandrar
över skiktet och dess intensitet samtidigt varierar på
grund av polaroidens rotation uppkommer testmönstret.
Intensiteten i det kan tänkas uppbyggd på samma sätt
som sagts, varvid h [w) -funktionerna i fig. 3 t.h. skall
bytas mot E [u) -funktioner, vilkas intensitet varierar
sinusformat med u. Belysningen i en punkt x i skiktet blir
B (x) = jg [x — u) E [u) du där g [x — u) representerar
den modulerade intensiteten. Funktionen g är rent
sinusformad för ideala polaroider. Fig. 4 visar integralen i två
fall, då B [x) har max. resp. min.
Bestämning av dif fusions funktionen
Belysningen B (x) ger upphov till en med
längdkoordina-ten x varierande svärtning i det fotografiska skiktet. Det
till ett visst y framkallade skiktet fotometreras i en
mikro-fotometer, varefter funktionen B (x) erhålles. Den enda
okända funktionen är diffusionsfunktionen, vilken kan
bestämmas ur det givna sambandet. Den spelar en stor roll
särskilt för upplösningsgränsen, då ljuset genom diffusion
spritts så att maxima och minima i testmönstret fått nära
lika belysning, de streckade ytorna i fig. 4 t.v. och t.h. är
lika.
Bestämning av fotoskiktets kt-kurva
I kt-kurvan för materialet ingår bl.a. diffusionen varför
vid beräkning av kt-kurvan den fotometrerade bilden av
testmönstret skall jämföras med det på skiktet projicerade
testmönstret. Intensiteten i detta fås om man i uttrycket
för B [x) byter ut ljusfördelningen i skiktet E [u) mot den
på skiktet infallande ljusfördelningen f [u), dvs. B [x) =
jg [x — u) f [u) du i detta fall. Då g är en sinusfunktion
blir B [x) det också men med annan (lägre) kontrast,
varför man kan skriva B [x) = a0 + a sin 2 jiNx, där N är
linjefrekvensen. Kt-kurvan får man sedan ur förhållandet
mellan koefficienten a och motsvarande koefficient för den
fotometrerade bildens kurva (Tekn. T. 1955 s. 505).
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
