Full resolution (TIFF) - On this page / på denna sida - Användning av elektronstrålning vid studiet av kristaller. Av professor G. Aminoff och fil. kand. B. Broome
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
på ett påfallande sätt, hur den BRAGG’ska beskrivningen förlorar
i åskådlighet med avtagande dimensioner hos objektet, under
det att användningen av den EwALD’ska konstruktionen i det
reciproka gittret, där hänsyn tagits även till de LAUE’ska
intensitetsområdena, med ett slag ger en sammanhängande och vacker
tolkning av interferensfenomenen.
Av figuren framgår vidare, att mönstret av fläckar på plåten
— frånsett en obetydlig korrektion — utgör en direkt bild av
punktanordningen i det reciproka gitterplan, som står vinkelrätt
mot primärstrålen. Ur mätningar på plåten samt med kännedom
om våglängd och avstånd kunna alltså avstånd och vinklar i
detta plan beräknas och härmed även motsvarande konstanter
— i detta fall vektorerna a± och a2 — i det primära gittrets
elementarcell. Uppmätning av radier för de olika öringarna på
plåten — där sådana framträda — medger även, ehuru med mindre
noggrannhet, beräkning av vektorn az.
Då ett gitter utan någon rät vinkel genomstrålas i en godtycklig
riktning, bli förhållandena något förändrade, men fortfarande
lätt överskådliga. Det för kristallfysikern i första rummet
nödvändiga, nämligen möjligheten att på ett enkelt sätt tillskriva de
observerade fläckarna på plåten en indextripel hkl, kvarstår.
Den här beskrivna metoden för konstruktion av
interferensbilden är emellertid icke i stånd att förklara, varför de områden
på plåten, vilka motsvara 1 = 0, 1 = 1, o. s. v. övergå i
varandra utan att, som teorien fordrar, åtskiljas av en mörk zon (fig.
5). Man kan beräkna den bredd, som vid en viss känd tjocklek
hos kristallbladet tillkommer området 1 = 0 (i litteraturen ofta
kallat det noHte huvudmaximet i anslutning till beskrivningen
av interferensfenomenet med tillhjälp av de tre LAUE5ska
interferenskonerna). Det visar sig härvid, att den observerade
bredden vida överstiger den beräknade. Lika litet har redogjorts
för det faktum, att interferensfläckarnas intensiteter, vilka enligt
teorien liksom vid röntgeninterferenserna regleras av
strukturfaktorn, i verkligheten äro lika stora . (Se fig. 5.) Olika
förklaringar ha försökts. Den enklaste, som tillika äger förtjänsten att
samtidigt förklara båda dessa företeelser, synes vara att utgå
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
