Full resolution (TIFF) - On this page / på denna sida - Användning av elektronstrålning vid studiet av kristaller. Av professor G. Aminoff och fil. kand. B. Broome
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
från det av Kirchner experimentellt funna faktum, att de
sekundära strålarna, när det gäller elektroner, äro så intensiva i
jämförelse med primärstrålen, att de i sin tur kunna ge upphov
till tertiära strålar med märkbar intensitet.
Om en sekundär interferensstråle genom gitterpunkten hjch
i egenskap av ny primärstråle ger upphov till en tertiär stråle
genom gitterpunkten ln2k2l2, så kan lätt visas, att den tertiära
strålens riktning sammanfaller med den riktning, som skulle motsvara
en sekundär stråle genom gitterpunkten hsk3l3, där
ho = hx+ h2
Jc3 —- ki -\- Jc2
h — h -\- ^2
De tertiära strålarna kunna med andra ord endast ge upphov
till fläckar, vilka kunna konstrueras såsom riktningar från den
ursprungliga utbredningssfärens centrum P genom reciproka
gitterpunkter, vilka även dessa ligga på sfären. Vi erhålla på
detta sätt dels förstärkning av redan förefintliga sekundära
fläckar h3k3l3 genom tillskott (»Zustrahlung») av den vid en eller
flera tertiära interferenser h2k2l2 uppkomna intensiteten, dels nya
fläckar A3&3?3, vilka motsvara tertiära interferensstrålar, vilka
bilda större vinkel med primärstrålen än de sekundära.1 På plåten
framträder denna effekt alltså som en förstoring av O-området,
eventuellt en sammansmältning av detsamma med 1-. 2- etc.
områdena samt en utjämning av fläckarnas intensiteter. Av
särskilt intresse är, att under vissa betingelser fläckar, vilkas
strukturfaktor är = 0, uppträda i fotogrammen. Vackra exempel på
tillämpligheten av detta betraktelsesätt funno författarna i de
nedan nämnda fotogrammen av ZnO. Udda ordningar av 00 Z,
vilka felas på den vertikala mittraden i fig. 12, framträda med
stor intensitet i fig. 13.
Vi ha hittills diskuterat det fall, att strålen passerar ett mycket
tunt kristallblad. Vi övergå nu till att visa, hur den ovan
beskrivna Ewald-L aue^ska metoden att tolka elektroninterferensfoto-
1 Ett analogt resultat erhålles, om hänsyn tages aven till interferensstrålar
uppkomna genom att sfären skar intensitetsområden.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
