Full resolution (TIFF) - On this page / på denna sida - Användning av elektronstrålning vid studiet av kristaller. Av professor G. Aminoff och fil. kand. B. Broome
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
snitt av utbredningssfären, gående genom punkterna 000, 11 • 1 • 1
och 11 • 1 • 1. Antaga vi, att de r silverskiktet först bildade
kri-stalliterna begränsas av oktaederytor, så innebär detta enligt
Laue, att ej blott gitterpunkterna i figuren (kubmitt och
kubhörn) representera möjliga interferensriktningar, utan att även
kubdiagonalerna genom dessa måste tänkas »belagda med
intensitet», avtagande utåt från gitterpunkterna. Av figuren framgår,
att vissa interferensstrålar då uppdelas i ett knippe av fyra strålar
genom de fyra skärningspunkterna mellan utbredningssfären och
kubdiagonalerna. De motsvarande intensiteterna ha i figuren
antytts genom större eller mindre prickar. En närmare jämförelse
mellan fig. 18 och mittpartiet av det i fig. 19 återgivna
fotogrammet visar fullständig motsvarighet mellan anordningen av
fläckarna och de i fig. 18 markerade interferensriktningarna.1 Vi ha här
ett exempel på, hur elektronstrålningen avslöjar, att vissa
gitterplan, här oktaederplanen, spela en speciell roll — enligt Laue
rollen av begränsningsytor — i dessa kristalliter, vilkas storlek,
form och struktur äro oåtkomliga för andra undersökningsmetoder.
— Då vid fortsatt sublimation silverskiktet tilltager i tjocklek,
försvinna dessa drag ur interferensbilden, som mer och mer
antager den karaktär (Kikuchiband och utdragna fläckar) som är
typisk för ett reflexionsfotogram från en tjock kristalls glatta yta.
Ett annat intressant exempel på hur »anomalier» i
interferensbilden kunna giva upplysning om submikroskopiska för att icke
säga subröntgenometriska detaljer hos kristaller erbjuder en
undersökning av W. Cocheane, utförd på G. P. Thomson’s institut
(1936). Han undersökte elektrolytiskt utfällda skikt av olika
metaller på en etsad enkristallyta, 110, av koppar. Han fann i de
flesta fall (Ni, Cu, Ag, Cr, Co) en bestämd orientering hos skiktet.
För substanser med samma struktur (kubiskt ytcentrerad) som
koppar och med nära lika gitterkonstant (aCu = 3.61; am = 3.52;
aco — 3.55) hade skiktets struktur samma orientering och —
vad beträffar Ni — i det närmaste samma gitterkonstant (aNi
1 Kirchners egen tolkning avviker något från Laue’s, i det han uppfattar inre
oktaederplan såsom självständigt verkande »ytgitter», medan Laue’s härledning
av intensitetsområdets form utgår från kristallitens yttre begränsningsytor.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
