Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - H. 26. 29 juni 1946 - Plana glastolkar och tekniska interferometrar, av Jiri Georges Vogl
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
2.9 juni 1946
661
kors och en rörlig linje, med vilkas hjälp de olika
mätningarna utföres. Hjälpspegeln kan skjutas
åt sidan, så att strålarna obehindrat kan passera
till filmen eller plåten 14. Fotografisk
registrering sker i skalan 1 : 2, medan vid visuell
observation interferensen syns förstorad fyra gånger.
Den hittills beskrivna interferenseffekten
kartlägger objektets yta, så att man får
förbindningskurvor mellan punkter på samma höjd eller
rättare sagt mellan de punkter, där luftlagrets
tjocklek är densamma. Effekten kallas därför
"interferens av samma tjocklek". Figuren är optiskt
reell och befinner sig mellan objektet och
normalytan. Strålknippena är sinsemellan parallella men
konvergerar var för sig till en punkt på ändligt
avstånd. Linssystemet 8, 10 och 12 kan för övrigt
betraktas som ett svagt mikroskop, inställt på
planet 6.
Om en belyst planparallell platta, såsom i fig.
13, betraktas från en punkt 0, kommer för
strålar med vissa lutningar eller vinklar, t.ex. oc ocli
ß, vägskillnaden mellan de delar av strålen, ,st
och s2, som reflekteras mot främre och bakre
ytorna, att utgöra en halv våglängd, varför
strålarna utsläcker varandra. Ett öga i punkten 0
kommer därför att se ett system av koncentriska
ringar, de s.k. Haidingerska ringarna. Avståndet
mellan ringarna och därmed det antal ringar, som
faller inom synfältet, beror på plattans tjocklek.
En ojämn eller kilformig platta ger
deformerade ringar. Om glasplattan flyttas, ändras
ringarnas antal och deras centrum blir omväxlande
ljust eller mörkt. En ändring från ljust till mörkt
centrum innebär en tjockleksändring av ca 0,0001
mm. Metoden tillåter noggrannare mätningar än
den vanliga interferensprincipen, enligt vissa
uppgifter ± 0.000001 mm, men har nackdelen att
undersökningen sker punkt för punkt. Ögat måste
vara inställt på oändligt avstånd, ty annars
upptar pupillen strålar av olika lutningar, så att
interferensen överlagras och försvinner. Ringarna
ligger med andra ord på oändligt avstånd och kan
observeras med en kikare. Vid mätningar med
Haidingerska ringar (fig. 12) ersättes 11—13—12
med okularet 12’ och hårkorset 13’, som lägges
i objektivets 8 brännpunkt. Okularet 12 och
objektivet 8 bildar nu en kikare, och objektet 7
kan undersökas punktvis. Det är nödvändigt med
stark belysning. Sådan åstadkommes med en
särskild belysningslins 15, som i vanliga fall kan
vridas åt sidan. Man har ingen nytta av
normalplattan, och denna vrides till läget 6’, så att dess
reflexer icke stör.
Instrumentet kan lätt omvandlas till en
interferometer enligt Michelsons kända system. Detta
uppfanns av Michelson vid sekelskiftet och
möjliggjorde ytterligt noggranna mätningar. (För
tekniska ändamål har instrumentet vidareutvecklats
av Twyman och Koster.)
I jämnhöjd med delningsplattan 5 monteras en
justerbar ytaluininiserad spegel 16 och på bordet
lägges en liknande spegel 17. Om avståndet från
delningsplattan till speglarna 16 och 17 inte är
alltför olika, råkar de båda reflekterade
strålknippena i interferens, alldeles som om
spegelytan 16 hade överförts i läget 16’. Man kan t.o.m.
åstadkomma en skenbar optisk kontakt mellan
speglarna 16 och 17.
Med denna anordning kan en hel del
undersökningar utföras, som inte kan göras med en
interferometer enligt fig. 10. Om man skall undersöka
en plan yta, kan denna placeras som någon av
speglarna 16 eller 17. En genomskinlig kropp kan
däremot placeras i strålarnas väg mellan spegeln 16
och delningsplattan 5. Den kontrollerade ytan är
lätt tillgänglig, så att olika anordningar för
belastning eller termisk mätning etc. kan anbringas,
utan att den dyrbara normalytan utsättes för
några risker. Eftersom man har tre element, dvs.
speglarna 16 och 17 samt delningsplattan 5,
måste på vart och ett ställas tredubbelt höga krav
mot på en enda normalplatta, om samma
mät-precision önskas. Den verksamma diametern är
60 mm. varför kraven på precision vid
tillverkningen blir utomordentligt höga. Det instrument
som här beskrives är icke avsett för absoluta
längdmätningar.
Instrumentet visas i fig. 14. Normalplattans
fattning, i vilken själva glaset är inlagt, är
upphängd i prismor på två slipade stavar. Om
objektet på grund av ovarsam behandling skulle
stöta mot normalplattan, höjes denna utan att
Fig. 14. Nife-interferometer.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
