Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - H. 35. 29 september 1953 - Ytjämnhetsmätning, av Bo Lindbeck och Axel Mannheimer
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
720 TEKNISK TIDSKRIFT
Fig. 12.
Princip för
ljus-snittsmikroskop.
Fig. 14.
Inter-ferensbild av
cylidrisk yta.
ingen friktion mot detta. Skrivaren är mycket snabb och
uppritar kurvan i rätvinkliga koordinater.
Två skilda typer av givare förekommer. Den ena (fig. 7),
vilar mot ytan med ett stöd med 25 mm krökningsradie
och hålls upprätt av drivanordningen. Den andra givaren,
fig. 8, kan utan stöd genom särskilda anordningar fås att
röra sig rätlinjigt eller efter en cirkelbåge med samma
radie som den undersökta ytans krökningsradie. Man kan
alltså få profilkurvor, fig. 9, med rät medellinje från
sådana mätobjekt som kulor, sfäriska rullkroppar, löpbanor
till kul- och rullager etc. Samtidigt kan också
kröknings-radier bestämmas. Visarinstrumentet är graderat i have
och när detta instrument användes, köres givaren med
väsentligt högre hastighet än då skrivaren användes.
Apparaten är byggd i skilda enheter och kan vid behov
flyttas. Den lämpar sig dock bäst för kontroll av
arbetsstycken, som kan föras till apparatens uppställningsplats.
Givaren är stegformigt avtrappad så att hål med 10 mm
diameter kan mätas till djupet 12,5 mm, hål med 32 mm
diameter till djupet 150 mm och hål med 100 mm
diameter till djupet 200 mm. Någon undre gräns för
axeldiametrar finns inte.
CEJ ytindikator
Instrumentet, fig. 10, arbetar enligt släpnålsmetoden och
utväxlingsanordningen bygger på mikrokatorprincipen. De
yttre dimensionerna är endast 70 X 50 X 50 mm och vikten
ca 115 g. Indikatorn vilar på tre stöd av hårdmetall mot
den yta, som skall undersökas, och har en vinkelrätt mot
ytan riktad nål, som med belastningen 1 g trycker mot
provytan. Nålen, vars nosradie är ca 10 ,u, är i sin övre
ända direkt kopplad till ett mikrokatorsystem, så att verti-
Fig. 13. Strålgång vid
inter-ferensmikroskop.
kalrörelserna hos nålen påverkar bandet i
mikrokatorsy-stemet och därmed mikrokatorvisaren. När instrumentet
för hand eller med en speciell frammatare skjuts utefter
provytan återger visaren ytans höjdvariationer i förstorad
skala.
Instrumentet kan användas på såväl plana ytor som på
cylindrar. Vid mätning på axlar mellan 4 och 60 mm
diameter bör en speciell styrning användas som styr
rörelsen efter längdaxeln. I hål med större diameter än 30
mm kan mätningen utföras till ett djup av några
millimeter och i hål med större diameter än 55 mm kan
instrumentet införas i sin helhet, varvid avläsningarna görs
med hjälp av en spegel.
Vid mätning på små detaljer uppställs instrumentet så,
att endast stödvtan med nålen vilar mot den yta som skall
undersökas, medan de båda andra stödytorna placeras på
något underlag i ungefär samma plan som arbetsytan.
Yt-indikatorn finns i fyra utföranden med fullt utslag från
20 till 400 /t. Minsta uppmätbara profildjup är ca 0,5 ,m.
Optiska instrument
De optiska instrumenten kan vara grundade på
snittmetoden eller på interferensmätning.
Schmaltz ljussnittsmikroskop
I ljussnittsmikroskopet, fig. 11 och 12, kastas en
ljusstråle A genom en smal spalt mot ytan B. Ljusbandet C,
som noggrant följer ytans ojämnheter, betraktas genom
ett mikroskop, vinkelrätt mot ljusstrålens infallsriktning.
Ljusspaltens ena kant representerar ytans profilkurva. På
en inbyggd okularmikrometer kan profildjupet
bestämmas genom att man avläser avståndet mellan övre och
undre grundlinjerna, som läggs genom profilkurvans
högsta och lägsta punkter enligt anvisningarna i SMS 671.
Vid 300 gångers förstoring blir det undersökta
kurvstyc-kets längd endast 0,35 mm och i de flesta fall måste
därför mätningar företas på flera ställen på ytan för att ett
tillfredsställande medelvärde skall erhållas. Ytjämnhet i
hål kan ej bestämmas annat än med hjälp av någon
avtrycksmetod.
Interferensmikroskop
I ett interferensmikroskop, fig. 13, riktas ljus från
ljuskällan L± eller L, mot en plan referensyta och
arbetsstycket S.2, vars yta skall vara speglande. Strålknippena
reflekteras mot resp. ytor och interfererar med varandra,
sedan de efter en andra passage genom dubbelprismats P1
halvgenomskinliga inre yta med samma riktning passerar
linsen L, prismat P2 och okularen 02 eller 01; beroende på
om bilden skall fotograferas eller endast betraktas.
Interferenslinjerna på ett cylindriskt arbetsstycke, fig. 14,
följer ytans oregelbundenheter som nivålinjer och ytjämn-
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
