Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - 1959, H. 32 - Transistorer — elektronrör, av Bengt Jiewertz
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
Fig. 8.
Strömförstärkningens
ändring med
tiden för en
transistor av
legeringstyp (Philco)
vid
arbetstemperaturen 100°C
samt 0,5 och
50 mA
kollek-torström.
felfrekvens än hos ytbarriärtransistorer. Några
definitiva livslängdsprov finns dock ej.
I de exemplifierade siffermaskinssystemen
har väsentligen ytbarriärtransistorer använts.
Transistorerna har körts under godartade
miljöförhållanden (rumstemperatur). Burroughs
har dock provat en multiplikatorenhet, som
skall ingå i ett styrsystem för roboten Atlas,
under upprepade växlingar mellan värme och
köld, fukt och torka.
Transistorn använd som omkopplare i
konservativt dimensionerade kretsar ger således
mycket goda siffror på felfrekvensen. Däremot
finns ej nu några motsvarande uppgifter på
felfrekvens hos transistorer i t.ex. förstärkare.
Kostnader
Att använda elektronrör och transistorer
tillsammans i ett hybridsystem är olämpligt på
grund av att dessa komponenter arbetar på
olika impedansnivåer och fordrar spänningar av
olika storleksordning. Om man måste använda
både rör och transistorer, försöker man för ett
visst system konstruera så stora enheter som
möjligt med antingen rör eller transistorer.
I samband härmed försöker man också
nedbringa antalet förbindelser mellan olika typer
av enheter.
För en apparat, med transistorer eller
elektronrör, sammansätts de totala kostnaderna av
komponentkostnader samt
konstruktionskostnader.
Av komponenterna är för närvarande
transistorerna i genomsnitt två till tre gånger så dyra
som rör. Kostnaderna för motstånd och
kondensatorer är i stort sett jämförbara. För
transistorapparater får man lägre kostnader
för likriktare, kylanordningar och chassier,
vilket ungefär uppväger de högre
transistor-kostnaderna.
Slutligen är konstruktionskostnaderna i
allmänhet högre för transistorapparater,
väsentligen beroende på att man för närvarande har
jämförelsevis mindre erfarenhet av
konstruerandet av apparater med transistorer än av
apparater med elektronrör.
Totalkostnaderna kommer då i allmänhet att
bli högre för apparater med transistorer.
Jämförelsen är naturligtvis grov och gäller endast
under förutsättningen att apparaterna med de
alternativa komponenterna är funktionsmässigt
likvärdiga.
Transistorpriserna sjunker emellertid stadigt,
och allteftersom apparatkonstruktörerna får
mera erfarenhet av transistorer, kommer
apparater med transistorer att bli i
kostnadshänseende mer jämställda med rörkonstruktioner.
Litteratur
Fig. 9. Väntad
livslängd (intill
dess 90 °/o av
provade
transistorer återstår)
för en
ytbarriär-transistor som
funktion av [-skikttemperaturen.-]
{+skikttempera-
turen.+}
1. Mordon, J A & Dietenpol, \V J: The technological
impact of transistors. Proc. Inst. Radio Engrs 1958 juni s.
955—959.
2. Clark, M A: Poiver transistors. Proc. Inst. Radio Engrs
1958 juni s. 1185—1204.
3. Van der Ziel, A: Noise in junction transistors. Proc.
Inst. Radio Engrs 1958 juni s. 1019—1038.
4. Fourth National Symposium ön Reliability Æ Quality
Control. Washington 1958.
5. McAdam, J C: Heat-dissipating electron tube shields and
their relations to tubc life and equipment relidbility. Internat.
Electronic Res. Corp. Washington 1957.
6. Messenger, G C: Physical mechanisms leading to
de-terioration of transistor life. Inst. Radio Engrs Träns, ön
Electronic Devices 1958 juni s. 147—151.
7. Proceedings of the transistor reliability symposium. New
York 1956 s. 3—4.
8. Harris, J R: Tradic, the first phase. Rell Lab. Rec.
1958 sept. s. 330—334.
9. The Lincoln TX-2 Computer. Lincoln Lab. MIT Rep.
6M-4968 1957 maj.
10. Dombert, W: The guidance brain, Burroughs computing
system for Atlas. Missile Design and Devel. 1958 okt. s.
64—70.
11. Fifth National Symposium ön Reliability & Quality
Control. Philadelphia 1959.
799 TEKNISK TIDSKRIFT 1959
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
