Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Ytbehandling av metaller, av Ivar Sven-Nilsson - Ytbehandling i allmänhet - 111. Kontroll och provning
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
Ytbehandling i allmänhet
Fig. 610. Glans- och
grumlighetsmätare.
lämpligen en i huvudreflexionsriktningen och en annan lodrätt ovanför
provytan. Mätning bör ske med ljusstrålen dels parallell med och dels
vinkelrät mot poleringsriktningen, då man ofta får olika resultat i dessa
båda riktningar.
Ett enklare prov är att låta bilden av något föremål reflekteras mot
ytan och se hur pass skarpt det avtecknar sig.
Skikttjocklek.
Ytskiktets tjocklek kan i vissa fall bestämmas direkt genom att man
mäter föremålets dimensionsökning. Ett annat sätt är att beräkna
skikttjockleken ur föremålets viktökning. Det senare förutsätter, att skiktets
specifika vikt och den belagda ytans storlek äro kända. Båda dessa
metoder kunna endast användas efter ytbehandlingar, som icke angripa
grundmetallen, alltså icke efter t. ex. fosfatering eller eloxering.
Fig. 611. Skikttjockleksmätning med mikroskop.
Skyddsöverdrag
av koppar.
Silverbeläggning
Grundmetall.
Särskilt när man vill mäta tjockleken hos vartdera av flera lager
utanpå varandra, är det lämpligt, att man gör ett snitt vinkelrätt mot
ytan och slipar snittytan, varefter skikttjocklekarna mätas direkt med
mätmikroskop, se fig. 611.
Ett särskilt skyddsöverdrag lägges då utanpå ytbeläggningen.
511
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
